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OLED 残影测试系统
- 品牌：北京卓立汉光
- 货号： ZL-ISS
- 产地：北京 通州区
- 供应商报价：面议
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北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间：2025-05-06 17:10:48 -
销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
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产品特点
- ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象
详细介绍
- 目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象，众所周知，烧屏现象是一个长期累积的过程，所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告，以便能够管控OLED 屏幕的品质，降低烧屏现象；ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象；主要功能• 短期残影测试；• 亮度均匀性测试；• 屏幕长期稳定性测试软件界面
技术规格参数
亮度范围
0.0001 to 100000cd/m2
亮度精度
±3%*1
像素
1900*1200
采样速率
≥1fps*2
镜头
24mm,28mm,35mm,50mm
可选
工作距离
＞ 350mm
空间分辨率
0.12mm*3
PG
可支持市面主流厂商 PG
样品ZD尺寸
190mmX110mm*3
样品类型
手机屏 \ 模组
稳定性
<0.5%
Pattern
客户可自定义
Pattern
*1:A 光源条件下测试精度；*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头，工作距离为500mm探头稳定性曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线
技术资料
沪公网安备 31011502008050号