-
-
-
OLED 残影测试系统
- 品牌：北京卓立汉光
- 货号： ZL-ISS
- CAS编号：
- 产地：通州区
- 供应商报价： 面议
-
北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间：2024-03-27 16:48:25 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品显示屏光学测试系统(9件)
联系方式：市场部13810146393
联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
- 目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象，众所周知，烧屏现象是一个长期累积的过程，所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告，以便能够管控OLED 屏幕的品质，降低烧屏现象；ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象；主要功能• 短期残影测试；• 亮度均匀性测试；• 屏幕长期稳定性测试软件界面
技术规格参数
亮度范围
0.0001 to 100000cd/m2
亮度精度
±3%*1
像素
1900*1200
采样速率
≥1fps*2
镜头
24mm,28mm,35mm,50mm
可选
工作距离
＞ 350mm
空间分辨率
0.12mm*3
PG
可支持市面主流厂商 PG
样品ZD尺寸
190mmX110mm*3
样品类型
手机屏 \ 模组
稳定性
<0.5%
Pattern
客户可自定义
Pattern
*1:A 光源条件下测试精度；*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头，工作距离为500mm探头稳定性曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线
- 主要用途
- ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象
- 技术资料
-
