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反射式膜厚测量仪FE-3000
- 品牌：日本大塚
- 型号： FE-3000
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间：2024-03-27 16:48:25 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品反射式膜厚仪(5件)
联系方式：市场部13810146393
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- 详细介绍
- 反射式膜厚量测仪的产品特点
- WM对应紫外到近红外（190～1600nm）广波长范围。
- 利用高分辨率传感器，可对应厚膜以及超厚膜样品类型：0.8～1mm
- 利用非线性*小二乘法薄膜解析软件，可解析多层薄膜的膜厚，光学常数（n:折射率，k：消光系数）等薄膜特性。
- 利用背面反射补正，对应透明基板
- 可测量微小光斑（*小3μm）的分光光谱
- 可对应大型样品
式样样品尺寸 200mm*200mm*7mm（厚度） 测量膜厚范围 1nm-1mm 测量波长范围 190nm~1600nm 可测量层膜数 *大50层 传感器 电子冷却型光电二极管配列 电子冷却型CCDarea image sensor测量项目多层膜解析光学常数解析(n：折射率k:消光系数)JD反射率测量实例
- 产品优势
- 可WM对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度，高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析
- 技术资料
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