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椭圆偏振光测量仪FE5000
- 品牌：日本大塚
- 型号： FE5000
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间：2024-03-27 16:48:25 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品反射式膜厚仪(5件)
联系方式：市场部13810146393
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- 详细介绍
- 可对应各种选配，膜厚的特制解析
椭圆偏振光测量仪FE5000应用范围- FPD LCD,PDP,FED,有机El
- 半导体 a-Si，poly-Si，其他
- 复合半导体 半导体激光，强电介质
- 数据储存 DVD,HDD,磁气头
- 光学材料 膜，防放射膜
- 膜 AR膜
FE-5000S
FE-5000的基础上追加了FE-5000S系列。FE-5000S虽然和FE-5000有相同的基本功能，但是价格低，省空间。光谱椭偏仪的用途也得到扩大。
功能进一步展开的光谱椭圆偏振光测量仪FE5000高速高精度纳米级的薄膜膜厚测量- 非接触非破坏实现多层膜的解析
材料表面光学常数（n.k）的测量- 可求得膜厚以及光学定数的波长分散
- 提供膜厚管理膜质管理有用的信息
通过400ch以上的多通道光谱法，迅速测量椭圆光谱- 可实现一分钟以内的高速测量
- 光谱点多，所以坡度大的椭圆光谱也可正确测量
利用多波长光谱仪实现高精度高感度测量测量反射角度可变，对应薄膜的高精度解析可对应特制解析的材料物性和多层膜等的高度评价
- 产品优势
- 通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
- 技术资料
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