简介
反射样品支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。我们提供了单臂、双臂和倒置三种不同的形态,方便用户应用于不同的测试应用中。YME-2063-01单臂形态主要用于固定Y型光纤探头,可测量光垂直入射的情况。YME-2063-02双臂形态主要用于固定两根石英光纤探头,可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换,具备高灵活性和强实用性。YME-2607倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合,可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确相等。
特点
多形态可选,适用更多的应用
底盘可定位多种标准尺寸
多方向控制光纤入射和出射的角度
兼容产品
XOP-1102 石英光纤
技术参数
型号 | YME-2063-01 | YME-2063-02 | YME-2067 |
形态 | 单臂 | 双臂 | 倒置 |
光路方向 | 垂直 | 多角度可调 | 垂直 |
底盘大小(mm) | Φ150 × 13 | ||
底盘可定位尺寸(mm) | 直径为Φ40,Φ60,Φ80,Φ100 | ||
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YSM-8101系列微型光谱仪采用微型光机平台,尺寸只有名片大小,非常方便携带。优化的光路设计使光学分辨率达到0.35nm-5nm。其中YSM-8101-02系列采用性能更灵敏更优质的传感元件,使动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms,同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测,支持RS232/RS422通讯,增强了抗干扰性能,更适合应用于工业和科研领域。
YSM-8101系列微型光谱仪采用微型光机平台,尺寸只有名片大小,非常方便携带。优化的光路设计使光学分辨率达到0.35nm-5nm。 其中YSM-8101-02系列采用性能更灵敏更优质的传感元件,使动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms,同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测,支持RS232/RS422通讯,增强了抗干扰性能,更适合应用于工业和科研领域。
YSM-8101-06系列微型光谱仪相比YSM-8101-02系列,在设计上采用了4096像素的探测器,像元分辨率提高了1倍,具有更高的读数精度,在不改变光机平台的条件下,使用更小狭缝,可以实现更高的分辨率。
YSM-8102系列高分辨率光谱仪,采用高分辨率光机平台,仅有手掌大小的体积,却带来更高的分辨率。优化的光路设计使光学分辨率最高可至0.06nm。 用户通过选择不同的光栅配置可以获得不同的光学分辨率和光谱响应范围。
YSM-8102系列高分辨率光谱仪,采用高分辨率光机平台,仅有手掌大小的体积,却带来更高的分辨率。优化的光路设计使光学分辨率最高可至0.06nm。 用户通过选择不同的光栅配置可以获得不同的光学分辨率和光谱响应范围。 YSM-8102-02系列,采用滨松S11639线阵探测器,动态范围最大可至10000:1,积分时间最低可至0.5ms, 同时信噪比提高到600:1,适合于通用性光谱分析与检测,支持RS232/RS422通讯,增强了抗干扰性能,更适合应用于工业和科研领域。
YSM-8102-06系列高分辨率光谱仪设计采用了滨松公司4096像素的S13496 CMOS探测器,相比S11649探测器,像元分辨率提供了1倍,极大地提升了光谱仪的测量精度,非常适合LIBS和其它激光光谱测量领域。
YSM-8102-03系列光谱仪,其设计采用了高分辨率的光机平台,搭载滨松S160102048×64像素面阵CCD, 使光学分辨率最优可达0.1nm, 同时信噪比提升至800:1,动态范围提升至50000:1,提升了700-1100n m范围内的灵敏度,因此该系列光谱仪非常适合于近红外激光光谱分析。另外该系列光谱仪可以通过配置不同的刻线数的光栅和不同的狭缝,用于拉曼光谱测量获得不同的光谱范围和光学分辨率,为科学研究和工业检测客户提供了丰富的选择。小巧的体积和较小的质量也非常适用于系统集成。
YSM-8103系列光谱仪是基于滨松面阵背照式非制冷CCD传感器开发而来的,提供紫外灵敏型和红外灵敏型两个版本。是弱光谱测量的性价比之选。其波长范围和光学分辨率均可独立配置,支持二次开发、触发控制,并可根据您的需求对光谱仪作深度定制。