「Eucentric样品支架」价格、参数、图片

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产品介绍：

在许多 SEM 应用中，如果样品可以倾斜和旋转，用户可以更深入地了解样品特性。考虑到这一点，专门为 Phenom XL 开发了 Thermo Scientific™ 全对中样品支架。支架包含一个子载物台，允许用户轻松安全地从所有侧面观察样品。

主要特点：

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在研究先进材料时，首先需要对样品的表面形貌、晶体结构和化学成分有深刻的了解。无论您是想实现下一次技术创新，还是专注于产品研发和生产，这些性息都能帮助您更加了解初始材料的性能，评估缺陷，并确保成品的质量; DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 ExSolve Wafer TEM Prep DualB

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提供高分辨率 X 射线光电子能谱和成像的多技术表面分析仪。; 赛默飞世尔电路编辑系统 Centrios 电路编辑系统

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