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赛默飞世尔 Celestron 测试系统

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详细介绍

产品介绍:

Thermo Scientific Celestron 传输线脉冲/极快速传输线脉冲 (TLP/VF-TLP) 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置,以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。Celestron 系统软件是业界极为全面的软件,它利用图形来辅助系统设置和与被测器件 (DUT) 的连接。在测试运行期间,系统可显示记录的 TLP 脉冲电压和电流波形、编制的脉冲 I-V 曲线、泄漏电流测量结果以及 DC I-V 曲线追踪数据。操作员可选择测试电压(应力脉冲)的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。


主要特点

灵活的测试功能

Thermo Scientific Celestron TLP/VF-TLP 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置,以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。 

卓 越的测试控制

操作员可选择测试电压(应力脉冲)的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。

脉冲发生器

高电流 TLP 脉冲发生器。

探测器

可与半自动探测器配合使用。


规格

标准 TLP 配置脉冲宽度为 30 至 500 ns

集成在脉冲发生器盒中,标准 TLP 脉冲宽度为 100 ns

可通过 30 至 500 ns 范围内的线缆更改从外部添加额外的脉冲宽度

可选的计算机控制脉冲宽度,具有 3 个可选脉冲宽度

可用上升时间

标准上升时间为 200 ps

500 ps 至 10 ns 的可选上升时间

通过可选的外部上升时间过滤器控制

包括 2 ns 和 10 ns 外部上升时间过滤器

可选计算机控制上升时间,具有 3 个可选的上升时间

注:TLP 测量需要 500 MHz 或更快的示波器

对于上升时间小于 1 ns 的测量,建议使用 1GHz 或更宽的范围

支持所有 TLP 配置

25 至 500 ohm 输出阻抗配置的可选更改

支持 ESD 协会 TLP 标准测试方法中描述的所有配置

所有阻抗的晶片级和封装测试

标准 TLP/VF-TLP 配置集成系统控制器

无需专用计算机

Windows® 操作系统

集成式产生源/测量仪表单元

曲线追踪至 ± 200 V

漏电测量低至 50 pA

基于漏电或具有强制电流的电压或两者的 DUT 故障检测

传输线脉冲
(TLP/VF-TLP)

设计上符合现行 ESD 协会标准测试方法文件 (ANSI/ESD STM 5.5.1-2016) 的相关要求

标准 VF-TLP 配置脉冲宽度为 1.2 至 10 ns

通过系统前部的线缆更改进行选择

标准宽度为 1.2、2.5 和 5 ns(其他可选)

上升时间为 200 ps 至 2 ns

通过可选的过滤器控制

标准上升时间为 200 和 300 ps

包括 2 ns 外部上升时间过滤器

最 大脉冲电流

15 A 形成 50 ohm 负荷

约 30 A 形成短路

最 大开路电压

1500 V


产品优势
灵活台式 TLP/VF-TLP 测试系统。
技术资料
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