高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验  

热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验

ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统

热流仪TS580B与德国Instrument Systems DMS 液晶显示屏测量系统（原AUTRONIC-MELCHERS）联用进行 LED 高低温环境测试. 每个 DMS 系统都可以扩展一个适当的冷热系统, 以进行 LED 光学显示特性和一致性测试的温度相关测量。

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

使用热流仪TS580B的优势：

通讯接口：RS-232，LAN；可选：GPIB，可连接光学测量系统 GPIB (IEEE-488) 直接控制
集成方便：TS580B输气软管可直接与光学测量系统测试腔体连接
温度范围广：-80℃ 至 +225 °C  

程序模式控制：根据不同温度环境测试需求, 可设置 0-20 组温度循环冲击测试
温度变化速率快：- 55°C 至 +125°C 约 10 s
输出气流量： 4 ~ 18 scfm（1.9L/s~8.5L/s）

ZONGLEN 热流仪可兼容市面上各品牌光学检测设备，完成再电高低温环境下的光学性能测试，是光学检测设备的组成之一，并持续稳定运行, 故障率极低，为晶圆、芯片、光通信、汽车电子、激光、集成电路、航空航天、天文探测、电池包、氢能源、移动储能等领域的制造和测试过程中提供整套温度环境解决方案。

高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验

ThermoTST TS580B是一台精密的高低温冲击气流仪，温度范围-80°C到+225°℃，温度转换测试能力强。温度转换从-55°C到+125℃之间转换约10秒；经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。TS580是纯机械制冷，不用液氮或其它消耗性制冷剂。提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求.