德国EPK公司-MiniTest2100涂镀层测厚仪

MINITEST 存储的数据量

应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数）

1

1

10

99

每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，并可设宽容度极限值）

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

√

√

√

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

√

√

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

√

√

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

√

√

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

√

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

√

√

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

√

√

√

其他功能

透过涂层进行校准（CTC）

-

√

√

√

在粗糙表面上作平均零校准

√

√

√

√

利用计算机进行基础校准

√

√

√

√

补偿一个常数（Offset）

-

-

√

√

外设的读值传输存储功能

-

√

√

√

保护并锁定校准设置

√

√

√

√

更换电池是存储数值

√

√

√

√

设置极限值

-

-

√

√

公英制转换

√

√

√

√

连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值

-

-

√

√

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

√

√

浮点和定点方式数据传送

√

√

√

√

组内单值延迟显示

-

√

√

√

连续测量模式中显示最小值

√

√

√

√

磁
感
应
法

F05

0-500μm

0.1μm

±（1%±0.7μm）

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±（1%±10μm）

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±（1%±10μm）

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±（3%±50μm）

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

两
用
 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

电
涡
流
法

N02

0-200μm

0.1μm

±（1%±0.5μm）

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±（1%±1μm）

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±（1%±25μm）

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±（1%±50μm）

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±（1%±0.3mm）

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面

7mm

无限制

φ17x80mm