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仪器网>产品中心> 深圳市伟峰仪器仪表有限公司>涂层测厚仪>德国EPK公司MiniTest4100涂镀层测厚仪

德国EPK公司MiniTest4100涂镀层测厚仪

¥23500 (具体成交价以合同协议为准)
德国EPK MiniTest4100 欧洲 德国 2026-01-13 20:20:32
售全国 入驻:9年 等级:认证 营业执照已审核
同款产品:涂层测厚仪(52件)
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产品特点:

德国EPK公司MiniTest4100涂镀层测厚仪
德国EPK(Elektrophysik)公司 MiniTest4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;

产品详情:

德国EPK公司MiniTest4100涂镀层测厚仪

德国EPK(Elektrophysik)公司 MiniTest4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。

德国EPK公司 MiniTest4100涂层测厚仪功能


型号

1100

2100

3100

4100



MINITEST 存储的数据量

应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数

1

1

10

99



每个应用行下的组(BATCH)对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值

-

1

10

99



可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500



数据总量

1

10000

10000

10000



MINITEST统计计算功能

读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-



读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-



组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-



组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-



存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-



分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-



显示并打印测量值、打印的日期和时间

-



其他功能

透过涂层进行校准(CTC)

-

 







在粗糙表面上作平均零校准




利用计算机进行基础校准



补偿一个常数(Offset)

-

-



外设的读值传输存储功能

-



保护并锁定校准设置



更换电池是存储数值



设置极限值

-

-

 







公英制转换




连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值

-

-

 







连续测量模式中测量稳定后显示读数


-

-

 







浮点和定点方式数据传送




组内单值延迟显示

-



连续测量模式中显示最小值

 



MiniTest涂层测厚仪可选探头参数( 探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
 N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
 FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
 


德国EPK公司MiniTest4100涂层测厚仪探头参数


探头

量程

低端
分辨率

误差

最小曲率
半径(/

最小测量
区域直径

最小基
体厚度

探头尺寸




 

 

 

 

 

 

 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm


F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm


F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm


F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm


F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm


F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm


F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm




 

 

 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm


FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm


FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm





 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm


N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm


N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm


N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm


N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm


N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm


N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm


CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

无限制

φ17x80mm




F1.6/90F2/90N1.6/90N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。


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