电压击穿试验仪
材料在电压击穿试验仪进行材料绝缘强度试验的的同时,回路中电流增加和试样两端电压下降。电流的增加可使断路器跳开或熔丝烧断。但是有时也可由于闪络、试样充电电流、漏电或局部放电电流、设备磁化电流或误动作而引起断路器跳开。因此,断路器应与试验设备及被试材料的特性相匹配,否则,断路器可能会在试样未击穿时动作或当试样击穿时断路器不动作,这样便不能正确地判断出是否击穿。即使在**的条件下,也存在周多有关材料围媒质先击穿的情况也会发生。因此,在试验过程中要注意观察和检测这些现象,若发现媒质击穿,应按在报告中注明。
对漏电检测电路敏感性特别重要的那些材料,在这种材料的标准中也应作同样的说明。 程序在垂直于材料表面方向试验时通常容易判断,无论通道是否充有碳粒,当击穿发生后用肉眼容易看到真正击穿的通道。当平行于材料表面方向试验时,要求判断是由试样破坏引起的击穿现象还是由闪络引起的失效中心得到。可以通过检查试样或使用再施加一次电压的办法来进行鉴别,再次施加的电压值应小于第yi次施加的击穿电压值。试验证明,再次施加的电压值为第yi次击穿电压值的50%比较合适,然后用与第yi次试验相同的方法升压直到破坏。下面推荐一款针对于材料电压击穿试验仪中比较稳定的设备。
主要特点
符合标准
GB1408.1-2016《绝缘材料电气强度试验方法 第1部分;工频下试验、第2部分》
GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》
GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》
GB/T 1 2656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》
ASTM D149 - 09 《固体电绝缘材料在商用电源频率下的介电击穿电压和介电强度的标准试验方法》 DL/T 3 76-2010 复合绝缘子用硅橡胶绝缘材料通用技术条件
仪器参数
设备尺寸:500x600x1400mm
仪器配置
说明书\保修卡 放电装置 绝缘脚垫 安全标识
测试电极

测试软件

报价:面议
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报价:面议
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绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。