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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

  • 品牌:日本电子
  • 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
  • 产地:日本
  • 供应商报价: 面议
  • JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。[查看全部]
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捷欧路(北京)科贸有限公司

主营产品:透射电子显微镜,扫描电子显微镜,球差电子显微镜,台式扫描电镜,电子探针显微分析仪

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 核心参数

电子枪: 场发射

详细介绍


  • 实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

  • JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

  • STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm

  • 采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达58pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。

  • ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件

  • ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

  • 强大的冷场发射电子枪HyperCF300

  • 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

  • 两种物镜极靴

  • 为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。

  • 丰富的选购件

  • 能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

  • 大范围的加速电压设置

  • 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV,使用范围极广。

  • 新开发的真空系统

  • 新的排气系统达到了极高的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中,最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。

  • 高稳定的镜筒和样品台

  • 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。


产品优势

JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

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