实现了世界Z高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界Z高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm
采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。
ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件
ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
强大的冷场发射电子枪HyperCF300
标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
两种物镜极靴
为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。
丰富的选购件
能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
大范围的加速电压设置
标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。
新开发的真空系统
新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
高稳定的镜筒和样品台
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
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日常使用的SEM，好用！ 该设备ZG分辨率1nm、ZD探针电流300nA（之前的15倍），可提供丰富的观测和分析信息，用户界面操作简单、设计紧凑、配备大样品室。
JSM-IT800的场发射扫描电镜通用性强，可广泛应用于纳米材料、金属材料、半导体材料、化学化工、医学及生物学领域，可GX观察包括非导体样品及强磁性样品等。 JSM-IT800SHL分辨率可达0.5nm,成像能力强大。浸没式电子枪可提供500nA大电流，EDS和EBSD分析速度极快。 另外JSM-IT800系列还搭载了众多全新研发的电子光学技术，自动化程度极高。
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术，具有高灵敏度和高分辨率，设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全独立的，杜绝了污染，更好的保护超真空系统。
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率：zui小束斑直径3nm（二次电子图像）和8nm（俄歇电子图像）。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器（HAS）优化了俄歇分析，适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。
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