瑞士Touchless Automation晶圆芯片非接触搬运设备
20Hz-2MHz 晶圆阻抗分析仪
晶圆/芯片微弱电流测试VI源表
20Hz-2MHz晶圆LCR分析仪
WLA-3000 晶圆水平仪
瑞士非接触式自动化LEVIO
灵活,易用,菜单驱动的软件,先进的机械和电子特性,完全非接触式操作功能。
这些功能以及更多功能使我们专用的全球首fa无接触过程拾取和放置系统成为您需求的wan美选择。
高科技,创新和可靠性满足您的需求。
该机器与Aatec一起开发,总结了两家公司的专业知识,创造出独特的产品。

基础设备:
焊接框架/底板,带安全保护和电子柜 两侧都有门 触摸屏HMI 具有xy动态的模具顶出模块 非接触式拾头 高精度运动控制和定位 CE标志 UPH:根据配置1000-1500个/小时 | 特征:
输入: 晶圆从4到12英寸 最多6个华夫饼托盘4英寸 最多20个华夫饼托盘2英寸 2个Jedec托盘 输出: 最多6个华夫饼/ Gel Pak托盘4英寸 最多20个华夫饼/ Gel Pak托盘2英寸 2个Jedec托盘 卷带模块(可选) 翻转模块(可选) 视觉检查模块(顶部/底部) |
尺寸和要求:
电压220-240 VAC / 12A最大 气压最大6巴 重量:600公斤 外形尺寸: L = 1200mm W = 1150mm H = 1700mm | 组件:
任何尺寸从0.5×0.5mm到10x10mm 任何材料(GaAs,GaN,玻璃,塑料......) 精致的表面和MEMS |

适用产品:
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成像传感器 | 发射激光器 | 激光二极管 |
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LED | 微机电系统 | 光学元件 |
上传人:靖江市森博机电科技有限公司
大小:0 B
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报价:面议
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J1 Optimes提供快速准确的解决方案,可自动测量旋转部件的所有外部尺寸。只需将工件放在2个支架上,它立刻开始测量。几秒钟后,软件将光学测量轴下的零件移动并读取所有预定义尺寸 该设备旨在确保对外部干扰(振动,温度,光线等)具有非常高的不敏感性。该优点使得可以在生产机器附近和控制实验室中使用测量仪器。 根据微机械的要求,测量的精确性和可重复性使Optimes J1wan美地集成到您的质量控制过程中。测量的速度和简单性可确保大量节省时间。