瑞士Touchless Automation晶圆芯片非接触搬运设备
20Hz-2MHz 晶圆阻抗分析仪
晶圆/芯片微弱电流测试VI源表
20Hz-2MHz晶圆LCR分析仪
WLA-3000 晶圆水平仪
瑞士非接触式自动化LEVIO
灵活，易用，菜单驱动的软件，先进的机械和电子特性，完全非接触式操作功能。
这些功能以及更多功能使我们专用的全球首fa无接触过程拾取和放置系统成为您需求的wan美选择。
高科技，创新和可靠性满足您的需求。
该机器与Aatec一起开发，总结了两家公司的专业知识，创造出独特的产品。
基础设备：
焊接框架/底板，带安全保护和电子柜 两侧都有门 触摸屏HMI 具有xy动态的模具顶出模块 非接触式拾头 高精度运动控制和定位 CE标志 UPH：根据配置1000-1500个/小时 | 特征：
输入： 晶圆从4到12英寸 最多6个华夫饼托盘4英寸 最多20个华夫饼托盘2英寸 2个Jedec托盘 输出： 最多6个华夫饼/ Gel Pak托盘4英寸 最多20个华夫饼/ Gel Pak托盘2英寸 2个Jedec托盘 卷带模块（可选） 翻转模块（可选） 视觉检查模块（顶部/底部） |
尺寸和要求：
电压220-240 VAC / 12A最大 气压最大6巴 重量：600公斤 外形尺寸： L = 1200mm W = 1150mm H = 1700mm | 组件：
任何尺寸从0.5×0.5mm到10x10mm 任何材料（GaAs，GaN，玻璃，塑料......） 精致的表面和MEMS |
适用产品：
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成像传感器 | 发射激光器 | 激光二极管 |
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LED | 微机电系统 | 光学元件 |
上传人：靖江市森博机电科技有限公司
大小：0 B
928
报价：面议
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J1 Optimes提供快速准确的解决方案，可自动测量旋转部件的所有外部尺寸。只需将工件放在2个支架上，它立刻开始测量。几秒钟后，软件将光学测量轴下的零件移动并读取所有预定义尺寸 该设备旨在确保对外部干扰（振动，温度，光线等）具有非常高的不敏感性。该优点使得可以在生产机器附近和控制实验室中使用测量仪器。 根据微机械的要求，测量的精确性和可重复性使Optimes J1wan美地集成到您的质量控制过程中。测量的速度和简单性可确保大量节省时间。
营业执照已审核
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