高电场介电、损耗、漏电流测试系统
----实现从低频到高频信号的输出与测量----
系统可实现从低频到高频信号的输出与测量,系统由工控机发 出指令,单片机控制FPGA发出测量波形,FPGA一路信号控制不同频率幅值的 信号由高压放大器进行电压放大后,施加在样品上,另一路施加在锁相放大器 作为参考信号,不同频率幅值的高压信号加载样样品上,样品测量的信号测量 后,再回传FPGA测试板卡。测量的数据再由单片机回传工控机进行数据处理。 它使用真正的 AC DFR(介电频率响应),保持出色的准确性和提供可靠数 据的能力,可在高干扰环境中获得可靠的测试结果。 该软件使测试既简单又快 捷,它可在进行不同温度,频率下测量材料的介电常数及介质损耗因数。 本套系统可以在任意电压激励下的介电响应测试根据需要自定义输出任 意电压波形激励,满足对不同条件下不同绝缘材料不同方面的测试需求,更好 地适应用户需求。





报价:¥50000
已咨询112次前沿材料检测试设备
报价:面议
已咨询74次前沿材料检测试设备
报价:面议
已咨询119次前沿材料检测试设备
报价:面议
已咨询517次铁电\压电材料高压放大器
报价:¥87888
已咨询758次前沿材料检测试设备
报价:面议
已咨询706次前沿材料检测试设备
报价:面议
已咨询886次绝缘诊断分析仪
报价:面议
已咨询1072次前沿材料检测试设备
报价:¥80000
已咨询992次绝缘材料高低温电性能综合试验系统
报价:¥80000
已咨询1276次绝缘材料高低温电性能综合试验系统
报价:¥20000
已咨询169次高频介电常数测试仪
报价:面议
已咨询119次前沿材料检测试设备
报价:¥14800
已咨询146次GCWP-A-介电温谱测试系统
报价:¥58000
已咨询40次聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪
报价:¥9800
已咨询214次高压漏电起痕试验仪-NLD-A
报价:¥6800
已咨询370次GCWP-A-介电温谱测试系统
表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点,能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种试验设备,它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(1~1000小时可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。