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YF19-1 型 荧光量子效率测量系统

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YF19-1 型 荧光量子效率测量系统 核心参数
光谱范围 350-1100nm 光源 350-980nm可选

产品特点

体积小巧:便于灵活使用及运输
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
结构稳定:设备无需频繁校准

详细介绍


YF19-1量子效率测量系统是用于评价发光材料性能,测试光致发光量子产率的测试仪器。 其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配置,覆盖紫外-近红外的范围,具有高灵敏度的背照式CCD探测器,从而有效解决上转换荧光量子产率的难以测试的问题

应用领域

量子点发光材料            钙钛矿发光材料            有机发光材料

AIE材料                  稀土发光材料               荧光粉

荧光染料                  上转换材料

产品优势

体积小巧:便于灵活使用及运输

原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量

结构稳定:设备无需频繁校准

技术参数

名称

量子效率测量系统

探测器

薄型背照式面阵CCD

波长范围

350-1100nm

信噪比(全信号)

10001

像素

1024

波长分辨率

2.5nm

A/D转换位数

18

CCD制冷

制冷,温度可低至-20

激发光源波长

350-980nm可选

积分球尺寸

 3.3英寸

积分球材料

Spectralon

样品

液体/固体

操作系统/接口

Windows系统(XP/7/8/10

测量项目

光致发光量子效率

量子效率和激发波长的关系

光致发光光谱

辐射通量,光通量

色彩测定(色度、色温、显色指数等)

 


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