仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-产品库- 视频

产品中心

当前位置:仪器网>产品中心> 布鲁克(北京)科技有限公司>电子背散射衍射系统(EBSD)>布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS
收藏  

布鲁克 电子背散射衍射仪 EBSD eflash FS

立即扫码咨询

联系方式:010-58333165

联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!

扫    码    分   享
为您推荐

详细介绍

  • 详细介绍


  • 核心参数

    产地类别:进口

    CCD相机分辨率:640 x 480

    极限速度:最快移动速度可达 10mm/s

    空间分辨率:1.5 nm

    角分辨率:0.2°

    QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下:

    • 提供 1.5 nm 的空间分辨率

    • 在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试

    • 在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案

    • 全自动内置 ARGUS 成像系统


厂商推荐产品

在线留言

换一张?
取消