自jasco,自动反射率测量系统ARMV734/735

概要

　　自动反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。

可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

◆装置特点

?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
?测量范围广，从紫外到近红外区域
?双光束光学系统，测光稳定性好
?可分别控制入射角、受光角
?标配偏光测量功能
?专用的样品池支架，样品的装卸简单

◆规格

ARMV-734/ARMN-735　自动反射率测量组件（V-600用）

※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。

VAR-7010/7020/7030　自动反射率测量组件（V-7000用）

※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。