分光/Jasco

要JASCO FT/IR-6600, FT/IR-6700和FT/IR-6800具有最高信噪比和分辨率，其性能水平在同行的仪器中是最高的。FT/IR-6000系列的结构设计广泛适用于各种研发应用，每种

要V-7000系列能研究看不见的世界紫外可见近赤外分光光度。采用双单色器,把光学系统和电气系统相结合,实现世界*** 的性能,强有力地支撑光学材料以及光设备的分光特性评价和薄膜的膜厚测量。根据用途有3

新的手性分离技术用于超临界流体手性化合物的作用是制药行业的关键因素，为了评估对映异构体，手性分离是作为主要课题.作为一个解决方案，超临界流体色谱法(SFC)吸引了许多研究者的关注.由于SFC的分离能力

概要FP-8000系列是采用日本zui*技术 的荧光光谱仪。高灵敏度测量和宽动态范围、自动高次光滤光片，业界最高水平的扫描速度，提高了３Ｄ光谱测量等性能。根据使用目的提供各种配件，满足从生物到先端材

要医药品制造中的过程分析技术PAT（ProcessAnalytical Technology）以及工业产品制造中的工程管理、反应过程中的管理、以及文化遗产或宝石鉴定等、对于以上的领域不需要前处理阶段的

要　　自动反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积

要MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过?反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过?反射特性的评价、半导体的能隙测量，计测膜厚、功能性结晶光

规格UTS-2000机种UTS-2000测量方式FT/IR 干膜厚测量法测量配置反射、透过（选配）样品尺寸20 × 20 ～ 1200 × 1200μm显示器内置CMOS相机确认测量位置　●测量范围／

空紫外分光光度计V1000大规模集成电路（Large Scale Integrated circuit）LSI的高集成化使制造过程的微型化进一步发展，伴随这个趋势光刻使用光源的波长向短波长推移，现在A

外显微镜IRT-5200概要红外分析中对微小领域的测量，在产品开发以及品质管理和生物制YF面都是不可缺少的。IRT-5200是具有很多功能的高端红外显微镜。IRT-5200是可以用手动样品台测量映射，

要IRT-7100/7200采用高辉度照明以及高解像度照相机比原来的机型性能有很大的提高，提高了信噪比。 IRT-7200配有16通道MCT阵列检测器、高速自动样品台、和现有的单素子检测器映射测量相比

要常规的拉曼光谱用可见光区域的激发激光测量、但是由于高分子材料、生物试样含有杂质或者样品本身有的荧光的影响，这种拉曼光谱的测量很困难。为此，荧光的影响的出自少的长波长激光激励的拉曼测量进行。因为长波长

易取样装置（Smart Tech）红外分光光度计 简易制样装置 Smart Tech概要概要Smart Tech和现有的红外附属品相比前处理简单、初学者也可以简单进行红外操作。墙样品表面使用付属的制样