韩国ISP测厚仪,膜厚仪iEDX-150UT

iEDX-150UT

是韩国原装进口设备，采用开放式样品腔。专业用于电镀镀层分析、PCB镀层厚度分析，同时兼容ROHS 无卤 重金属分析。高精度测试标准，高效分析有害元素的成分比例。

TFFP软件主界面

最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在+/-0.02%，贵金属（8-24Karat）分析精度可达+/-0.05kt

对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

技术指标：
1、多镀层，1-6层；
2、超高测试精度；
3、元素分析范围从铝（Al）到铀（U）；
4、测量时间：5-60秒；
5、SDD探测器，能量分辨率为125电子伏特；
6、微焦X射线管50KV/1mA；
7、焦斑尺寸75um；
8、7个准直器及6个滤光片自动切换；
9、XYZ三维移动平台，极限荷载为5KG；
10、高清CCD摄像头，准确监控位置；
11、多变量非线性去卷积曲线拟合；
12、高性能FP/MLSQ分析；
13、平台尺寸：700×580×25mm；
14、仪器尺寸：475×787×375mm；
15、加入安全防射线光闸，样品室门开闭传感器；
16、可提供对样品的自动和编程控制，多点自动测量。

图谱界面：

1、软件支持无标样分析；

2、超大分析平台；

3、可自动连续多点分析；

4、集成了镀层界面和合金成分分析界面；

5、采用先进的多种光谱拟合分析处理技术。

分析报告结果：

1、直接打印分析报告；

2、报告可转换为PDF、EXCEL和HTML格式