Horiba激光粒度仪SZ-100
-- 一台仪器即可完成粒径、Zeta电位、分子量测量
SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等，进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等；基于HORIBA公司独特的光学设计，SZ-100**的测量性能和最宽的测量范围（0.3nm-8 m）不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生产的高质量控制。
纳米颗粒及生物样品分析
在纳米材料及生物材料领域，原料颗粒的粒径大小和Zeta电位对产品的性能有显著影响，因此保证产品质量的关键是控制纳米颗粒原料质量，而实验室使用的传统仪器来分析超细颗粒需要专业的操作人员和复杂的操作过程。HORIBA公司研发的SZ-100分析仪使用光子相关光谱原理，其体积小操作简单，不仅可以测量纳米粒径，还可测量Zeta电位、分子量。Zeta电位指示的是颗粒分散性、物理凝聚等性质，这使得SZ-100对更细致分析颗粒性质非常有用；同时其还可用于研究蛋白质和多聚体。由于具备这些功能，SZ-100是生产现场的质量控制过程中的质量分析工具，同样这种高端仪器也多用于实验室纳米及生物新技术的研发。
主要特点：
1. 最宽测量范围：0.3 nm to 8,000 nm (8 m) max
宽测量范围，从亚纳米大小（分子尺寸大小）到微米尺寸可用SZ-100一台分析仪即可;
2. 最少样品量：测量Zeta电位仅需100L，测量粒径大小仅需12L
非常适用于珍贵样品如生物材料和纳米材料样品
3. 分析少量的稀溶液有最高的灵敏度。
装备高强度激光光源及独特的Horiba光学系统设计，因而光噪音更低，灵敏度跟高
4. 一台仪器即具备测量粒径、Zeta电位、分子量三种纳米颗粒研究最重要参数功能 (SZ-100Z mode)
主要应用：
陶瓷纳米颗粒、金属纳米颗粒、碳黑、制药、病毒研究、涂料、聚合物、食品、化学机械抛光、染料、胶体、蛋白质等
上传人：天津东方科捷科技有限公司
大小：0 B
607
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CPS高速离心式粒度分析仪目前有三种型号DC12000、DC18000和DC24000UHR，他们是目前世界上分析速度Z快、分辨率ZG以及Z灵敏的离心沉淀式颗粒粒度分析仪。它可以分析任何粒度分布介于0.005和75微米的颗粒，提供比其他粒度分析方法好2到10倍的分辨率。Z小峰值宽度可小至峰值直径的2%。 技术参数： 1.测量参数：粒度 2.测量范围：0.005-75μ 3.旋转速度：12.000 RPM, 18.000 RPM, 24.000 RPM 主要特点： 1.量测任何密度的颗粒 2.宽动态范围 3.比同类分析仪更快的分析速度 4.自动密度梯度生成器 5.使用自动给料器，可以实现无人看守操作
仪器简介： CPS高速离心式粒度分析仪目前有三种型号DC12000、DC18000和DC24000UHR，他们是目前世界上分析速度Z快、分辨率ZG以及Z灵敏的离心沉淀式颗粒粒度分析仪。它可以分析任何粒度分布介于0.005和75微米的颗粒，提供比其他粒度分析方法好2到10倍的分辨率。Z小峰值宽度可小至峰值直径的2%。 技术参数： 1.测量参数：粒度 2.测量范围：0.005-75μ 3.旋转速度：12.000 RPM, 18.000 RPM, 24.000 RPM 主要特点： 1.量测任何密度的颗粒 2.宽动态范围 3.比同类分析仪更快的分析速度 4.自动密度梯度生成器 5.使用自动给料器，可以实现无人看守操作
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