日本理学Rigku XRD

日本理学Rigku XRD SmartLab系列，是当是一款多功能的X射线衍射仪，它采用了理学CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。The SmartLab 高分辨衍射系统全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统，选配的in-plane 扫描臂、9kW转靶发生器，全自动光学系统实现先进的测量。

主要特点：

1、智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

2、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。

3、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。

日本理学Rigku XRD Ultima IV是一款多功能X射线衍射仪的设备，结合了理学公司CBO技术，平行光与聚焦光灵活转换，Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量，采用全自动校准的X射线衍射仪，CBO技术与自动校准相结合，使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用的灵活系统，CBO技术缩短了切换测角仪时花费的时间，使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统，可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。

自动校准：

1、粉末衍射

2、薄膜衍射

3、小角散射

4、In-plane散射

5、快速、灵活、实用

日本理学Rigku XRD MiniFlex应用于石棉、游离氧化钙等定量分析、工业原材料品质管理、大学、科研等，此款设备具有600W功率，是其他台式机的两倍，高分辨、高精度、高信噪比，丰富的附件可供选择，满足广泛应用需要。

产品特点：

1、安全设计： 采用联锁装置，在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁，则快门关闭同时停止X射线。

2、高分辨率： 入射和发散狭缝可选，为您提供所需的分辨率。

3、高 精 度： 实时角度校正功能，大幅提高角度精度、强度等基本性能，得到高精度测试数据。

4、高信噪比： 可以选配单色器，用于扣除荧光X射线背底，提高信噪比进行高质量数据测试。

5、丰富附件： 一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等。

技术参数：

1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶；

2、测角仪为水平测角仪；

3、测角仪进为1/10000度，精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)；

4、测角仪配程序式可变狭缝；

5、自动识别所有光学组件、样品台；

6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)；

7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)；

8、多用途薄膜测试组件；

9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件；

10、In-Plane测试组件；

11、入射端Ka1光学组件；

12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)；

13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)；

14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance。

主要的应用有：

1、粉末样品的物相定性与定量分析；

2、计算结晶化度、晶粒大小；

3、确定晶系、晶粒大小与畸变；

4、Rietveld定量分析；

5、薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度；

6、In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构；

7、小角散射与纳米材料粒径分布；

8、微区样品的分析。