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软X射线分析谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: 软X射线分析谱仪
- 产地:亚洲 日本
- 供应商报价:面议
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捷欧路(北京)科贸有限公司
更新时间:2021-08-11 16:01:30
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销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
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产品特点
- 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。
详细介绍
软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。
和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。系统简介
zuixin开发设计的分光系统,不需移动衍射光栅或检测器(CCD)就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高,还可以采集状态分析分佈图
SXES、WDS、EDS的比较
各种分光方法中氮化钛样品的谱图
即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠,需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示,SXES具有很高的能量分辨率。
比较表
锂离子二次电池(LIB)分析实例
能观察到LIB的充电量
充满电后Li-K样品的谱图
说明: 由于理论上的原因,氧化锂的检测很困难
轻元素的测试实例
SXES测试碳素化合物的实例
可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。
各种氮素化合物的测试实例
氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同,还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形。
特征 SXES EPMA(WDS) EDS 分辨率 0.3 eV
(费米边处 Al-L)8 eV (FWHM@Fe-K) 120-130 eV
(FWHM@Mn-K)化学结合状态分析 可以 可以(主要是轻元素) 不可以 并行检测 可以 不可以
(但分光谱仪台数范围即可)可以 分光晶体和检测器 衍射光栅+CCD 分光晶体+正比计数管 SDD 检测器冷却 珀尔帖冷却 不需要 珀尔帖冷却 检测限(以B作為參考值) 20ppm 100ppm 5000ppm 产品规格
能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)
获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV
获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区70-210eV
分光谱仪艙安装位置:
EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧)
FE-SEM的WDS接口(正面左后侧)
分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
* 从接口包括CCD的距离
分光谱仪重量 25kg
适用机型
EPMA : JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
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