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阻抗率自动测定系统

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详细介绍

商品名称:阻抗率自动测定系统
特色:测定演算、数据处理,3次元图形输出完全自动化,可应用至基板尺寸650×650mm之长方形、圆形样品,"边缘之影响"被补正,依[MCC方法]测定例
测定对象:ITO玻璃、薄膜,各种金属薄膜、各种导电性薄膜、薄片
型号:低阻抗率型式:MCP-S620 (650×650mm), MCP-S521 (450×450mm)
高阻抗率型式:MCP-S600 (400×400mm)

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