荧光光谱仪-XTrace-基于SEM高性能微区荧光光谱仪
发光成像系统-GATAN ChromaCL2第二代实时彩色阴极发光成像系统
原位加热台-用于SEM / FIB / EBSD的950 °C原位加热台-Murano 525
原位动态拉伸试验台-英国DEBEN MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台
原位动态拉伸试验台-英国DEBEN MICROTEST系列原位动态拉伸试验台
扫描电镜原位拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学研究中发挥了重要作用。
GATAN公司MICROTEST系列样品台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形等),高分子材料等。通过扫描电镜对微观结构的形态变化进行原位成像,从而深入理解形态变化的原因并对变化时刻进行成像。结合对动态实验的信息可以克服对传统的应力/应变数据解释的不确定因素。针对拉伸、挤压和弯曲测试,我们提供很多款装置,负载范围从2N到5000N。
MICROTEST原位拉伸台针对SEM而特殊设计,有四个版本可以使用,200N、300N、2KN、5KN
MICROTEST系列拉伸台技术特点:
较载荷范围:200N, 300N, 2000N 和5000N
可更换的称量传感器量程小到 2N
应变速率:5 μm/min 到 6 mm/min
可选3- 点和 4-点水平弯曲附件
EBSD 样品附件
加热和水冷台上配备的定制钳口
简单的软件用户界面提供了实时定量数据曲线,结合灵活的阀值可以进行复杂的实验,包括 循 环负载。
支持同步图像和数据采集。可以通过影响对样品变化过程进行细节分析。
1、MICROTEST 200系列拉伸台
动态测试台,在SEM内外都能操作。大200 N负载,可以进行拉伸、挤压操作,可配水平方向上3或4点弯曲。MICROTEST 200B可以实现垂直三点弯曲。
2、MICROTEST 300系列拉伸台
动态测试台,在SEM内外都能操作。大300 N负载,可以进行拉伸、挤压操作,可配水平方向上3或4点弯曲。MICROTEST 300B可以实现垂直三点弯曲。
3、MTEST2000系列拉伸台
MTEST2000和MTEST2000E动态测试样品台模块,大载荷为2000N,在扫描电镜 (SEM)里面和外面都可以使用。MTEST2000可以工作在拉伸或压缩模式,并可选配水平弯曲夹具。MTEST2000B设计用于垂直的3-/4-点弯曲。MTEST2000E拉伸台设计用于配置EBSD的扫描电镜研究(MICROTEST 2000ES室温版本,MICROTEST 2000EW水冷版本,是加热夹具的基本配置,同时可以选配EH 2000为可实现加热状态下拉伸测试)。
4、MTEST5000 系列拉伸台
MTEST5000是一个可工作于拉伸或压缩模式的高载荷(5000N)动态测试样品台模块,可以进行拉伸、挤压操作,可配水平方向上3或4点弯曲。(MICROTEST 5000S为室温版本,MICROTEST 5000W为水冷版本,是加热夹具的基本配置,同时可以选配H5000为同时进行加热或冷却状态下的拉伸测试)
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