前照式CCD线阵传感器 S11151-2048
背照式CCD面阵传感器 S11850-1106
背照式CCD面阵传感器 S11851-1106
背照式CCD线阵传感器 S11155-2048-02
背照式CCD线阵传感器 S11156-2048-02
低读出噪声，高分辨率（像素尺寸：12μm）
S13240/S13241系列和S10140/S10141系列 (-01) 是专用于科学应用中低光量探测的FFT-CCD面阵传感器系列。通过binning操作，它可以作为线阵图像传感器，拥有很长的光感面。因此，该器件非常适合用于分光光度计。与传统的信号通过外部电路数字化相加不同，binning操作提高了信噪比和信号处理速度。该器件还具有低噪声和低暗电流的特性（MPP模式下），并以可长时间积分实现了低光量探测，以增大饱和电荷量增大了动态范围（较前序产品S10140/S10141系列）。S13240/S13241系列是高速读出型，S10140/S10141系列(-01)是低噪声 型。这些产品的像素尺寸为12 × 12 μm光敏面范围在24.576 (H) × 1.464 (V) mm2 (2048 × 122 pixels) 到24.576 (H) × 6.072 (V) mm2(2048 × 506 pixels)可选。
产品特性
● 宽动态范围
● 低读出噪声：30 e-rms typ.
● 高分辨率，像素尺寸 12 × 12 μm
● 非制冷
● 峰值波长超过90%的量子效率
● 宽光谱响应范围
● MPP操作
● 高紫外灵敏度、良好稳定性
| 图像尺寸 | 24.576 x 1.464 mm |
| 有效像素个数 | 2048 x 122 pixels |
| 像素尺寸 | 12 x 12 μm |
| 光谱响应范围 | 200 to 1100 nm |
| 线速率（典型值） | 921 lines/s |
| 线速率（最大值） | 2501 line/s |
| 暗电流（典型值） | 30 e-/pixel/s |
| 读出噪声（典型值） | 30 e- rms |
| 制冷 | One-stage TE-cooled |
| 窗材料 | AR-coated sapphire |
| 封装 | Metal |
| 测试条件 | Typ. Ta=25 ℃, unless otherwise noted, frame rate: full line binning, Dark current: MPP mode |
| 制冷 | 12 μm |
| 类型 | High resolution type |
| 感光面积 | 24.576 x 1.464 mm |
| 封装 | Metal |
| 饱和电荷量（典型值） | 70 ke- |
| 线速率（典型值） | 921 line/s |
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FFT-CCD area image sensor / Technical information [447 KB/PDF]
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X15213-03CR 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅上液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
X15213-03CL 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
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沪公网安备 31011502008050号