Gamry电化学工作站 Reference3000
PGSTAT101 电化学工作站
Energylab XM 电化学工作站
Gamry电化学工作站 Interface1010E
Gamry电化学工作站Reference3000AE
美国Gamry多通道电化学工作站Interface将多种研究级仪器结合到一个单一、灵活的系统中。这种灵活性使您能独立使用每个通道、分组使用通道或一次性同时使用全部通道。美国Gamry多通道电化学工作站Interface,保留了以往型号所有的优势;卓越的低阻抗测试特性,准确度到达微欧数量级。浮地技术;特别为电池,电容器,液流电池等能源材料设计的PWR800软件测试包等等。可以进行系列电化学测试编程。同时可以扩展位双恒电化学工作站和IMPS/IMVS系统。
美国Gamry多通道电化学工作站Interface最多可将 16 台 Gamry 恒电位仪结合到一个系统中。 仪器极具灵活性,您能够挑选和选择所需的多通道系统的配置方式,并且丝毫不必牺牲 EIS、低电流或高电流模块的机箱插槽。
可能您希望获得八个 Interface 1000 的价值,以及连接到 Reference 30K Booster 的 Reference 3000 的高性能。美国Gamry多通道电化学工作站Interface系统的各个通道拥有与单个研究级仪器相同的功能,但各通道的成本大为降低,在提供更高实验处理量的同时性能丝毫不受影响。
请注意,对于八通道接口系统中的各个通道,此处显示的精度等值线图相同。

美国Gamry多通道电化学工作站Interface强大灵活性:任何一个通道的安装和拆卸,可以快速完成,同时可以作为单通道拆开,放到任何地方进行电化学测量,甚至手套箱内。
*标准配置电流范围 1 A ~ 100 pA (3.3 fA 分辨率). 电流可以扩展为 5A。
*软件:支持用户自己编辑程序进行序列测试。
可控制能源器件充放电测试,软件支持免费升级;采用友好界面和功能强大的电化学数据采集和分析软件。
美国Gamry多通道电化学工作站Interface可以使用Gamry所有的电化学软件进行电化学领域的研究:
涂层分析
微生物燃料电池
大型超级电容器和电池评估
持续的腐蚀监测
监测电极阵列
传感器的研发
组合测试
合成化学
动力学,热力学研究
电化学阻抗
腐蚀
电分析
主要技术参数
· 最大输出电流:±1A
· 最大输出电压:±12V
· 电位范围:±22V
· 电位分辨率:1 μV
· 电流范围:100 pA-1A
· 电流精度:±5 pA或电流范围值±0.3%
· 电流分辨率:3.3 fA
·
浮地式恒电位仪应用举例
· 高温高压釜联用;
· 土壤中金属构件的腐蚀研究
· 海水中的腐蚀研究
· 桥梁的腐蚀研究
· 摩擦腐蚀
· 与透射电镜的联用.






报价:¥640000
已咨询3905次电化学工作站
报价:面议
已咨询772次电化学工作站
报价:¥46000
已咨询214次电化学分析仪(电化学工作站)
报价:面议
已咨询3821次电化学工作站
报价:面议
已咨询772次多参数水质分析仪 – 电化学参数测定
报价:¥247000
已咨询518次32通道电化学分析仪(电化学工作站)
报价:面议
已咨询2845次电化学工作站
报价:面议
已咨询940次多参数水质分析仪 – 电化学参数测定
l 能够进行直喷,喷雾和液滴测试; l 端口设有一台高速摄像机,用于拍摄水滴撞击的图像; l 安全功能 - 防溅板,紧急停止按钮和测试持续时间限制; l 用户友好的控制和操作; l 精确模拟液滴以225m/s的飞行速度对转子叶片的冲击。 l 满足ASTM G73-10测试标准要求
技术参数: 1.分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 环境真空模式 3.0nm @ 30kV 背散射电子 4.0nm @ 30kV 2.样品室压力ZG达2600Pa 3.加速电压200V ~ 30kV,连续调节 4.样品台移动范围 Quanta 250: X=Y=50mm Quanta 450: X=Y=100mm Quanta 650: X=Y=150mm
功能Z丰富的显微计算机断层扫描系统解决方案, 适用于广泛的材料科学应用 Thermo Scientific™ HeliScan™ microCT 通过利用先进的螺旋 扫描和迭代重建技术,提供无与伦比的图像保真度,为材料科 学带来了microCT的新纪元。 作为多尺度成像解决方案的一部 分, HeliScan™ microCT使科学家能够从内部结构获得有价值 的见解,以探索和验证广泛的材料属性。
Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。 Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类:磁浸没或静电。FEI S次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针,以提高低电压下的分辨率,并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜,不但提高了分辨率,还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm(无电子束减速或单色器)
Scios DualBeam FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在内的众多样本提供出色的二维和三维性能。FEI Scios 的创新功能可提高通量、精度与易用性,非常适于学院、政府和工业研究环境中的纳米量级研究与分析。
Helios NanoLab DualBeam 一直以来,Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的ZJ电子和离子光学系统、配件和软件,能够为JD纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab 能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。 借助极具价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及Z精确的原型设计功能,科学家能够将 Helios NanoLab 当作理想的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料和纳米量级器件。
Talos™ 是新一代 TEM 产品,致力于让用户迅速访问二维和三维数据,从而专注于研究发现。 Talos 的配置适合开展材料研究和生命科学研究,是一款融合了众多创新技术的多功能系统,能够在未来数年里满足您的研究需求。 Talos 的材料科学应用
Spectra新的检测功能,使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据,以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像,包括金属有机框架,沸石和聚合物,如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX(能量分散X射线)或EELS(电子能量损失光谱)等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。