可变角度水平衰减全反射

角度可调：20-70°
根据晶体选择的不同，测试厚度为：0.5-10微米
可选晶体：ZnSe,Ge,Si,KRS-5
可变温使用
适用于粉末样品，薄膜样品，液体样品，并可选配电化学反应池。