Xenemetrix偏振X荧光光谱仪Genius IF

一、 主要特点

(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；

(2)、采用ZLWAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶；

(3)、8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；

(4)、标准配置硅漂移探测器SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；

(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器；

(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；

(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；

(8)、配备集成电脑、专业nEXt分析软件，操作方便；

二、二次靶激发技术介绍

二次靶激发技术能zui*程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr，Mn，Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿)，杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没；相反，使用Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强。

三、主要技术参数