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Xenemetrix X-PMA贵金属X荧光光谱仪

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详细介绍

一、 主要特点

(1)、用于珠宝和贵金属中AuAgPdPtRh等的分析检测;

(2)、配备分辨率为155±10 eVX-射线探测器;

(3)、内置摄像头,保证对测量区域精确定位;

(4)、基本参数专业软件,用于无标样测试;

(5)、外型坚固耐用,适于移动实验室,符合冲击试验MIL810E规格;

(6)X-射线光斑可小至1mm

(7)、集成电脑,专业nEXt分析软件,操作方便;

二、主要技术参数

系统规格

X-PMA

测量范围

Na(11)- Fm(100)

测量浓度

ppm 100%

X-射线管靶材

Mo

X-光管电压/功率

50 kV, 50 W

激发类型

直接激发,管滤光片

光斑大小

Φ1mm

探测器

热制冷PIN半导体

分辨率(FWHM)

5.9 keV时,155 eV ± 10 eV

自动进样器

1

工作环境

空气

样品架

适用于小尺寸处理

管滤光片

6款软件可选

样品室尺寸

22 cm(D), 5 cm(H)

操作软件

nEXt分析包(包含基础基本参数法)Microsoft Windows OS操作系统。

选配件

氦气净化器

三、检测限

检测元素

检测限ppm

检测元素

检测限ppm

Cr

5-10

Ti

3-5

Cd

1-2

Cu

1-2

Ag

1

Ni

1-2

Sn

4-5

Zn

1-2

Sb

4-5

土壤和沙石中的Au

3-5

Ba

20

土壤和沙石中的Au

1-2

Pb

3-5

Pd, Rh, Ru

1-2

As

3-5

Pt, Ir, Os

3-5

Hg

3-5

稀土元素La, Ce, PrNd

15-25

四、主要应用领域

珠宝行业

手表行业

贵金属检测

纯度鉴定

回收行业

补齿合金鉴定

技术资料

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