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荧光寿命共聚焦显微镜
- 品牌:德国PicoQuant
- 型号: MicroTime 200
- 产地:德国
- 供应商报价: 面议
- 武汉东隆科技有限公司 更新时间:2024-02-29 13:36:26
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企业性质授权代理商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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- 标签: 荧光寿命共聚焦显微 德国picoquant 东隆科技独家代理
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- 荧光寿命共聚焦显微镜 核心参数
- 详细介绍
Micro Time 200可选配多种波长的皮秒二极管激光光源,还拥有皮秒级别的时间分辨率,另外最多支持整合4个完全相互独立的探测通道,可以全面支持当今生物和物理方面的单分子研究课题,如FLIM, FRET, FCS(包含自相关和互相关)以及各向异性的研究,以及同时进行AFM/FLIM或者深紫外探测。MicroTime200家族中又新增加了空间分辨率高达50nm的MicroTime 200 STED。
在软件交互方面,与该系统配套的SymPhoTime 64能够提供强大全面的数据采集和处理功能,而且针对以上提到的实验方向,此软件都整合有一键式运行模块,极大的降低了操作复杂度,进一步提高了实验本身的效率,是当今荧光相关领域研究很好的选择
产品特点
集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统
375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器
最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元
针对FCS和FLIM快速动力学研究,有时间相关单光子计数(TCSPC)和TTTR两种模式
适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台
两个额外光路输出口用于拓展应用
匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64
双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级
可提供STED附件,用于超分辨率成像
FLIMbee 振镜扫描附件,具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度
可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量
基于后口激发的“二维载流子扩散成像”套件
主要应用
MicroTime 200是具有单分子灵敏度的时间分辨共聚焦显微镜。 因此,该仪器可以实现许多应用,包括:
单分子光谱/检测
时间分辨荧光
荧光寿命成像(FLIM)
磷光寿命成像(PLIM)
荧光相关光谱(FCS)
荧光寿命相关光谱(FLCS)
荧光共振能量转移(FRET)
双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)
扫描FCS (sFCS)
脉冲交替激发(PIE)
荧光各向异性(偏振)
模式匹配分析
时间分辨光致发光(TRPL)
TRPL 成像
反聚束效应
参数
激发系统
激光耦合台,基于皮秒脉冲半导体激光器(功率/重复频率可调, 最大80MHz)
375-900nm波长范围
支持单通道或者多通道驱动
可选:支持外接第三方激光器 (如钛蓝宝石飞秒激光器和超连续谱激光器)
显微镜
OlympusIX73或IX83倒置显微镜
预留左口和后口, 可做拓展应用(如宽场成像和TIRF)
包含透射照明部件
独特的25 mm × 25 mm手动样品固定台
标准样品架(用于20x20mm载玻片)
可选落射荧光照明
可选低温恒温器用于低温型实验
可选与原子力显微镜整合
物镜
标准20X和40X 空气物镜
可选多种高端特殊物镜(水/油镜, 红外/紫外增强, 超长工作距离型等)
扫描台
压电平移台:
80 µm x 80 μm 规格2D压电扫描台(1nm定位精度)
PIFOC 3D成像(行程80μm,定位精度1nm)
80 μm X 80 μm物镜扫描(1nm定位精度)
可选厘米级别大范围扫描台
FLIMbee振镜扫描头:
图像尺寸范围从10 × 10到2048 × 2048 µm (60x 物镜)
高达2.6 FPS @ 512 × 512 像素
可选的Z轴控制,例如,用于z-stacks (基于压电Z轴位移台,最大100μm)
像素停留时间从0.5 µs到1 s
主要光学部件
最多可支持6通道的探测模块
多种规格的分光部件
额外的输出接口
易于更换的二向色镜支架模块
用于光斑分析的CCD相机和光电二极管
所有光学元件都可更换和调试
探测器
单光子雪崩二极管(SPAD)
混合型光电倍增管(Hybrid-PMT)
光电倍增管(PMT)
数据采集方式
基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式
独立多通道同步采集
分析软件
SymPhoTime 64
- 产品优势
- 在当今许多科学的进步过程之中,单分子研究都扮演了极其重要的角色.例如分子运动的量化和分子交互性属性的研究.这些应用的特点进一步对设备仪器的灵活性和多样性提出了要求.来自德国PicoQuant公司的MicroTime 200系统的多功能性恰好可以胜任这些工作.作为当前世界的时间分辨共聚焦荧光显微成像系统, Micro Time 200具备了针对单分子级别相关实验和分析的能力.
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