
一、高温四探针测试仪产品简介
Huace-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
Huace-800系列采用自主开发先进的电子护系统,设备的安全性;选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用的SPWM 电子升压技术,电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。
Huace-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行电压、电 流、温度、时间等设置,符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格,保障检测结果的品质,适用于新材料数据的检测。例如:多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料,也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计,测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全;资料保存机制:当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。
二、高温四探针测试仪适用范围
1多晶硅材料
2石墨烯材料
3石墨功能材料
4半导体材料
5导电功能薄膜材料
6锗类功能材料
7导电玻璃(ito)材料
8柔性透明导电薄膜
9其它导电材料等
三、高温四探针测试仪产品功能
█ 电压、电流、温度实时显示
█ 自动升压功能
█ 循环自动测试
█ 升温速度可控
█ 自动试验报表
█ 过压、过流、超温报警
█ 软件自动升级
█ 试验电压、电流可调
█ 电极方便更换
█ 在线设备诊断
四、高温四探针测试仪性能特点
多功能真空加热炉,一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试
█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度,
█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率;
█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能;
█ 进口温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更准确;
█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;
█ 10寸进口触摸屏设计,一体化设计机械结构,更加稳定、可靠;
█ 程控电子升压技术,纹波更低、TVS防护系统,保证仪器安
99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针;
huace pro 强大的控制分析软件。
报价:¥85421
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报价:面议
已咨询795次功能材料电学综合测试系统
报价:¥2800
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报价:¥8698
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报价:面议
已咨询1099次高温四探针测试仪
报价:¥20000
已咨询183次导电和防静电材料体积电阻率测试仪
表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点,能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种试验设备,它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(1~1000小时可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。