高温四探针测试仪

一、高温四探针测试仪简介：

   高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。

       本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。

       采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表:本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

        双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国AS.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精度.也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

      采用自主开发先进的电子护系统，设备的安全性:选用进口热电偶保定温度的采集有效值、采用先进的的SPWM电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。

      搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的白定义功能，可进行电压、电流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。

      高jing准度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如:多晶硅材料，石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。

       针对测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。

二、高温四探针测试仪系统功能

1电压、电流、温度实时显示

2自动升压功能

3循环自动测试

4升温速度可控

5自动试验报表

6过压、过流、超温报警

7软件自动升级

8试验电压、电流可调

9电极方便更换

10在线设备诊断

    工步编辑

    可编辑样品名称、牌号、试验条件、试验单位等；具有试验电压设置功能可选择试验标准；可选择是否自定义或自动试验;截止条件:时间/电压/电流/温度。

    语音提示:可选择是否语言提示功能。

    统计报告

    可自定报格式

    可生出 PDF、CSV、XLS 文件格式

    分析功能:可对测试的数据进行统计。zui大/zui小值、平均值等。