面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘bu良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,gao效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
高精测量
自主开发连续通电扫描继电器方式,配备国际标准的测量仪表,与环境试验箱联动,操作更简便更安全。
应力电压范围广泛
标配100V应力电压(应力电压/测量电压),更有300V、500V高电压规格备选。
连续通电扫描方式
ESPEC具有扫描动作技术,切换扫描时不发生无电压状态,测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制,可准确控制电压。
漏电流检测功能
高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化,离子迁移实时监测。
专用统计软件
[E-Graph]可实时编辑预览监测实时获得的数据。
专用连接样件夹具
选配可使连接样品及线缆更方便,试验效率更高。
报价:面议
已咨询886次绝缘诊断分析仪
报价:面议
已咨询1135次半导体芯片类测试仪器
报价:¥7976
已咨询1389次电荷量表
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已咨询73次前沿材料检测试设备
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已咨询1139次绝缘材料电性能测试设备
报价:¥100000
已咨询67次前沿材料检测试设备
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已咨询1135次半导体芯片类测试仪器
报价:¥99999
已咨询88次高低温
报价:¥11111
已咨询107次系统
报价:面议
已咨询810次功能材料电学综合测试系统
报价:面议
已咨询1124次前沿材料检测试设备
表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点,能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种试验设备,它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(1~1000小时可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。