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半导体分立器件来料检测仪器iv+cv曲线分析仪

武汉普赛斯仪表有限公司更新时间：2025-04-08 08:56:38

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半导体分立器件来料检测仪器iv+cv曲线分析仪核心参数

测试范围	30μV-1200V；1pA-100A	输入电源	220V 50/60Hz
接口	USB,LAN

产品特点

SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC