数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数认准生产厂家武汉普赛斯仪表,普赛斯仪表实验平台是以工程教育专业认证为引领参与高校专业建设,以信息化引领构建学习者为中心的教育生态,培养集成电路硬件测试人才。为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环境,支撑集成电路相关课程的教学与实训,且能进行项目开发和师资培训,打造集成电路人才培养实践中心,以培养高层次的工程实践能力强的毕业生,提高院校整体教学实力;
平台特色:
基于高精度通用仪表的微电子综合实验平台,提供多种实验测量环境;
采用一体化设计,集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表;
贴合集成电路测试相关实验案例,支撑集成电路相关课程资源和理论教学;
全国产化仪表,符合当前国家政策,进口仪表有禁运风险;
搭配丰富的测试夹具及实验教材,满足基础实验教学需求;
测试器件采用STO封装,即插即用,方便更换;
测试设备简单易用,接线简单,方便学生动手操作;
以基础平台为起点,可逐步升级,满足日益增加的实验室测试需求;
辅助老师编写教案,提高教学效率,降低课程开发的难度;


报价:¥1000
已咨询119次数字源表
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已咨询118次数字源表
普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且蕞大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试
具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有卓越的测量效率与可靠性
采用PXIe通信架构方案,支持板卡灵活扩展与高精度电学特性分析;支持单卡1200V大电压、单卡400A大电流输出,且最大可扩展至3500V、2000A;可与探针台(Prober)、分选机(Handler)等外设联机使用,应用于半导体产线KGD、DBC及FT工站的芯片及器件的高效分选测试。
不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求
武汉普赛斯P系列数字源表汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量