分立器件测试设备

依托丰富的半导体行业应用背景与领先的测试测量技术，普赛斯仪表推出基于SMU源表的微电子和集成电路实训平台系统方案，提供多学科实验实训测试解决方案，携手高校共同培养面向未来行业需求的高水平测试人才。

集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系

半导体分立器件测试分析仪认准普赛斯仪表咨询，半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时...

数字源表搭建微电子教学实验平台认准普赛斯仪表咨询，普赛斯数字源表SMU是整个测试系统的核心部分，用户可以根据材料器件不同的电流、电压，配置不同规格参数的源表和探针台。

半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。实施特性参数分析的...

在新材料与纳米技术、钙钛矿、半导体分立器件、MEMS和半导体传感器、射频/微波毫米波器件、忆阻器、霍尔效应、短波长LED、激光器、光电探测器等材料和器件的研究中，测试测量是必不可少的环节之一，基于普...

实施半导体分立器件特性参数分析的Z佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、波形发生器和自...

半导体分立器件测试机认准普赛斯仪表，半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时，还占用...

普赛斯半导体分立器件静态测试系统集多种测量和分析功能一体，可晶准测量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，电压可高达10KV,电流可高达6KA。该系统...

SPA6100半导体参数测试仪iv|cv曲线分析仪配置有多种不同规格的SMU，如低压直流SMU、低压脉冲SMU、大电流SMU；用户可根据测试需求灵活配置不同规格，以及不同数量的搭配。

半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。实施特性参数分析的...

半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件，半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT...

半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT)等产品,半导体分立器件测试设备认准普赛斯仪表，普赛斯五合一高...