老化测试系统

普赛斯多路大功率激光器老化系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。激光器寿命测试设备认准普赛斯仪表

针对千瓦级大功率半导体激光器，普赛斯推出国产化极优性价比大功率激光器老化测试系统解决方案.设备可扩展至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串联老化。大功率半导体激光器芯片测试设备老...

普赛斯多路大功率激光器老化系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。该系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲...

普赛斯仪表半导体激光器参数测试设备是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。...

普赛斯推出的多路泵浦激光器老化测试系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。该系统包括高温环境控制装置、直...

普赛斯多路大功率激光器老化测试系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。...

半导体激光器稳定性分析及老化测试系统认准生产厂家武汉普赛斯仪表，基于率先国产化数字源表(SMU)的技术开发实力，以及多年来产品覆盖国际通信及半导体头部用户的认可和应用研究，武汉普赛斯针对千瓦级大功率半...