大功率半导体激光器芯片测试设备老化系统

大功率半导体激光器老化测试系统解决方案

针对千瓦级大功率半导体激光器，普赛斯推出国产化极优性价比大功率激光器老化测试系统解决方案.设备可扩展至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串联老化。

图：LDI系列大功率激光器老化测试系统

系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪(选配)、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等.其中,电源采用普赛斯全新开发、自主设计的HCPL系列大功率激光器测试电源。

60A CW模式，600A QCW模式

值得一提的是,随着国内半导体产业的不断发展,以及行业解决“卡脖子”难题的决心,国产化仪器仪表的时代已然到来！武汉普赛斯仪表坚持自主创新，争做国货之光！

大功率半导体激光器芯片测试设备老化系统简介

普赛斯多路大功率激光器老化系统是专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出的一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案

器件装载使用抽屉式结构，设备可以灵活扩展Z高至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器的串联老化。  普赛斯多路大功率激光器老化系统采用全新开发、自主设计的大电流脉冲恒流源，可以兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流扫描、脉冲直流、脉冲扫描等四种模式。该系统包括高温环境控制装置、直流或脉冲驱动电源、收光装置、光纤、光谱仪（选配）、循环水冷系统、定制夹具、温度采集器及上位机等。实现上位机程序进行自动测试，自动采集半导体激光器驱动电流、激光器电压、激光器光功率、环境温度。实现多单元、高效率、自动监控并记录上传测试数据的一体化测试系统。

技术参数