半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件,半导体分立器件市场前景广阔,根据基材不同,半导体分立器件可分为不同类型,以硅基半导体为基材时,半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT)等产品;以宽禁带材料半导体为基材时,半导体分立器件主要包括:SiC,GaN半导体功率器件;从需求端来看,分立器件受益于新能源、汽车电子、5G通讯射频等市场的发展,具有较大的发展前景。半导体特性曲线分析仪+IV扫描设备认准生产厂家武汉普赛斯仪表,普赛斯五合一高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具,接线简单、方便操作。
半导体特性曲线分析仪+IV扫描曲线图:

利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试
丰富的半导体IV特性测试行业经验;
全面的解决方案:二极管、MOSFET、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等;
提供适当的电缆辅件和测试夹具……
普赛斯S系列数字源表优点:
同时精确提供和测量电压和/或电流;
同步测量,减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压;
电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A
支持运行用户脚本程序,无需电脑控制,提高生产测试速度;
序列测试,简化操作,降低成本
采用用户熟悉的图形界面,不管用户经验是否丰富,使用起来都非常简便;
触屏操作
与传统电源比:
电源过零需要改变线连接方式;
增加需反复开关机械开关,降低了设备可靠性
电压电流限制精度有限;
电压1%,电流10mA
与电源结合万用表组合比:
万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步;
复杂连线、编程开发
电源限压限流性能差
限压限流精度低,瞬态特性也无法保证
有关半导体特性曲线分析仪+IV扫描设备的更多信息,找普赛斯仪表专员为您解答
报价:¥1000
已咨询346次分立器件测试设备
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不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能,还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求
武汉普赛斯P系列数字源表汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量
能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
够同时输出和测量电压电流,蕞大支持±30V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点
汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中