半导体特性测试仪IV曲线扫描仪

半导体特性测试仪IV曲线扫描仪认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案

S型数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作           

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.03%

四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

技术参数

Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

电流源：±3.15安（≤10V量程），±1.05安（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

过量程：105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV     Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80uV；

Z大采样速率：1000  S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC  100~240V  50/60Hz；

工作环境：25±10℃；

尺寸：106mm高 ×  255mm宽 ×425mm长；

S系列源表应用

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；