半导体参数IV曲线扫描仪+电性能测试设备

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半导体参数IV曲线扫描仪+电性能测试设备认准普赛斯仪表，普赛斯仪表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案

S型数字源表应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至30pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。

产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作           

内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.03%

四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA

丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储，一键导出测试报告

支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

技术参数

Z大输出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

电流源：±3.15安（≤10V量程），±1.05安（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

过量程： 105%量程，源和测量；

稳定负载电容：<22nF；

宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV     Vp-p（典型值）；

线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80uV；

Z大采样速率：1000  S/s；

触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；

输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太网；

电源：AC    100~240V      50/60Hz；

工作环境：25±10℃；

尺寸：106mm高 ×  255mm宽 ×      425mm长；

S系列源表应用

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；

普赛斯源表优点：

同时精确提供和测量电压和/或电流；

       同步测量，减少测试时间

提供和测量非常广的电流和电压；

        电压测试范围±90uV-±300V,电流测试范围±30pA-±3A

支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；

       序列测试，简化操作，降低成本

采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；

       触屏操作

与传统电源比：

电源过零需要改变线连接方式；

     增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性

电压电流限制精度有限；

电压1%，电流10mA

与电源结合万用表组合比：

万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；

     复杂连线、编程开发

电源限压限流性能差

      限压限流精度低，瞬态特性也无法保证

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