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武汉普赛斯仪表有限公司
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  • 如何用数字源表简化apd的暗电流测试 如何用数字源表简化apd的暗电流测试

    01APD工作原理APD雪崩光电二极管的工作原理是基于光电效应和雪崩效应,当光子被吸收时,会产生电子空穴对,空穴向P区移动,电子向N区移动,由于电场的作用,电子与空穴相遇时会产生二次电子,形成雪崩效应...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2024-03-15    浏览次数:81
  • 数字源表IV扫描测试纳米材料电性能方案 数字源表IV扫描测试纳米材料电性能方案

    01/纳米材料电学性能的表征和分析/与传统的材料相比,纳米材料具有原子级厚度、表面平整无悬空键、载流子迁移率好等优点,其导电性能很大程度依赖于材料本身的带隙、掺杂浓度和载流子迁移率。同样的掺杂浓度下,...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2024-03-08    浏览次数:102
  • 基于SMU国产源表的微电子和集成电路实训平台系统方案 基于SMU国产源表的微电子和集成电路实训平台系统方案

    PART/1构建微电子和集成电路实验教学平台微电子和集成电路涵盖物理学、电子学、材料科学、集成电路设计与制造等学科,在产业上又分为设计、制造和封测三大环节,封测是集成电路产品制造的后道工序,测试环节价...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-12-21    浏览次数:223
  • 霍尔电流传感器可靠性如何测试? 霍尔电流传感器可靠性如何测试?

    霍尔电流传感器广泛应用于航空航天、电源监测、飞行器状态监测、变速驱动设备、焊接设备供电电源、新能源汽车蓄电池管理系统等领域,在电流检测领域中有着重要地位和实用价值,在电驱系统中被称为新能源汽车的动力“...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-11-13    浏览次数:235
  • 基于高性能数字源表SMU的氮化镓器件表征设备 基于高性能数字源表SMU的氮化镓器件表征设备

    GaNHEMT器件性能的评估,一般包含静态参数测试(I-V测试)、频率特性(小信号S参数测试)、功率特性(Load-Pull测试)。静态参数,也被称作直流参数,是用来评估半导体器件性能的基础测试,也是...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-07-04    浏览次数:405
  • 数字源表如何扫描光电二极管PD的伏安特性曲线? 数字源表如何扫描光电二极管PD的伏安特性曲线?

    光电二极管(Photo-Diode)是由一个PN结组成的半导体器件,具有单方向导电特性。光电二极管是在反向电压作用之下工作的,在一般照度的光线照射下,所产生的电流叫光电流。如果在外电路上接上负载,负载...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-06-14    浏览次数:440
  • 后摩尔时代,洞见第三代半导体功率器件静态参数测试的趋势和未来! 后摩尔时代,洞见第三代半导体功率器件静态参数测试的趋势和未来!

    前言2022年,Q球半导体产业连续高增长,进入调整周期。与此形成对比,在新能源汽车、光伏、储能等需求带动下,第三代半导体产业保持高速发展,Q球化供应链体系正在形成,竞争格局逐步确立,产业步入快速成长期...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-05-30    浏览次数:440
  • 如何用源表快速测试忆阻器的电性能参数? 如何用源表快速测试忆阻器的电性能参数?

    基于经典的电路理论,存在四个基本的电路物理量,即电流(i)、电压(v)、电荷(q)以及磁通(o)。根据这四个基本的物理量,理论上能够推导出六种数学关系,同时定义三种基本的电路元器件(电阻R、电容C、电...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-04-25    浏览次数:1494
  • 数字源表如何快速测试纳米材料电性能参数? 数字源表如何快速测试纳米材料电性能参数?

    概述纳米材料,定义为粒径在1-100纳米之间一类超细材料,具有表面效应、小尺寸效应、宏观量子隧道效应等一些特殊物理化学性能。由于结构有比表面积大,粒径小,表面原子比例高等特点,使得纳米材料在电学、热力...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-03-29    浏览次数:607
  • 国产数字源表如何表征柔性材料电性能? 国产数字源表如何表征柔性材料电性能?

    柔性电子材料“动态”测试难点柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲,在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都会逐渐发生变化,进而影响材料的电学性能和寿命。用多次反复弯折扭曲等方法来测试柔性材料...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-03-15    浏览次数:445
  • 数字源表如何表征光电探测器光电性能? 数字源表如何表征光电探测器光电性能?

    概述光电二极管是一种将光转换为电流的半导体器件,在p(正)和n(负)层之间,存在一个本征层。光电二极管接受光能作为输入以产生电流。光电二极管也被称为光电探测器、光电传感器或光探测器,常见的有光电二极管...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-03-13    浏览次数:516
  • 数字源表测试压力传感器电性能方案介绍 数字源表测试压力传感器电性能方案介绍

    压力传感器分类压力传感器(PressureTransducer)是能感受压力信号,并能按照一定的规律将压力信号转换成可用的输出的电信号的器件或装置,压力传感器通常由压力敏感元件和信号处理单元组成。常见...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-03-02    浏览次数:568
  • 高精度源表IV扫描三极管电性能方案 高精度源表IV扫描三极管电性能方案

    三极管是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把整块半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射区和集电区。设...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-02-28    浏览次数:594
  • 如何用数字源表测试MOS管电性能参数? 如何用数字源表测试MOS管电性能参数?

    MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件,可以广泛应用在模拟电路和数字电路当中。MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳纳米管等材料制作,是...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-02-16    浏览次数:635
  • 如何用高精密数字源表分析二极管特性参数? 如何用高精密数字源表分析二极管特性参数?

    分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应,通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字万用表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-02-16    浏览次数:533
  • 大功率激光器LIV测试及老化方案 大功率激光器LIV测试及老化方案

    大功率半导体激光器及大功率半导体激光器泵浦激光器在材料加工、激光打标、激光测距、激光存储、激光显示、激光照明、激光医疗等民用领域,以及激光制导、激光夜视、激光武器等君用领域得到广泛应用。如何实现大功率...

    发布:武汉普赛斯仪表有限公司    更新时间:2023-01-04    浏览次数:839
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