HCP系列大电流台式脉冲源表具备直流和脉冲输出能力,蕞大脉冲输出电流100A,蕞大输出电压100V,支持四象限工作,输出及测量精度均可达0.1%,可广泛用于功率MOS测试、肖特二极管测试、整流桥堆测试及太阳能电池模组测试等。

应用
•纳米材料的特性测试:石墨烯、纳米线
•有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术
•能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器
•分立半导体器件的特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
•传感器的测试:电阻率、霍尔效应
•太阳能电池模组相关
订货信息

武汉普赛斯仪表有限公司,是一家专注于半导体的电性能测试仪表的开发、生产与销售的研发型高新技术企业。公司以源表为核心产品,专注于第三代半导体测试,提供从材料、晶圆、器件的全系列解决方案。
未来,普赛斯仪表基于国产化高精度数字源表(SMU)的测试方案,以更优的测试能力、更准确的测量结果、更高的可靠性与更全面的测试能力,联合更多行业客户,共同助力我国第三代半导体行业高可靠高质量发展。
报价:¥1000
已咨询238次数字源表
报价:¥1000
已咨询100次数字源表
报价:¥1000
已咨询251次数字源表
报价:¥1000
已咨询194次数字源表
报价:面议
已咨询1730次源表
报价:面议
已咨询1704次源表
报价:¥1000
已咨询86次数字源表
报价:面议
已咨询1445次源表
报价:¥1000
已咨询238次数字源表
PMST系列igbt静态测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线
用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量
能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持30V,500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。
够同时输出和测量电压电流,蕞大支持±30V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信,支持源表标准SCPI指令集,支持多台源表同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算,支持光谱特性测试(需要外接光谱仪)。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,具有体积小、测试速度快、使用简单的特点
汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,Z大脉冲输出电流达30A,Z大输出电压达300V,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中
能够同时输出和测量电压电流,最大支持±10V,±500mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本
武汉普赛斯PMST系列igbt性能测试仪器失效分析等覆盖IV,CV,跨导等丰富测试功能,全量程0.1%精度,15us超快上升沿,支持恒压限流,恒流限压模式,可定制化夹具,用于晶圆,芯片,器件,模块及IPM全面测试