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仪器网/ 产品中心/ 新品发布/ 日立 扫描探针显微镜 AFM100
创新点

【整机创新】

通过使用AFM100,任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据,从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。

【智能化、自动化程度提升】

通过配备自动向导功能,还可以根据样品的表面形貌,自动设置最佳测量条件,对探针进行接触状态控制和扫描速度调整等,任何人测量都可以得到稳定的结果,从而提高了数据的可靠性。此外,该机型支持自动多点测量,只需点击一下,从测量,到图像数据分析、保存可一次性完成,大大缩短了数据测量分析时间。

【功能改进】

为简化过去操作繁琐的悬臂更换,采用新开发的预装方式悬臂,提高了操作性。

【应用领域拓展】

选配功能“AFM标记功能”通过采用日立高新技术自主开发的SÆMic.(SÆMic:AFM-SEM相关显微镜法)观察方法,提高了与扫描电子显微镜SEM(Scanning Electronic Microscope)的亲和性。在观察样品的同一位置时,可以充分发挥各个设备的特性,对样品进行机械特性、电气特性、成分分析等检测,易于开展多方面分析。

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