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供应RoHS检测仪器/无卤检测仪
- 品牌:深圳禾苗
- 型号: E8
- 产地:深圳
HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
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色差仪
- 品牌:广州兰泰
- 型号: CM-200S
- 产地:广州
颜色差异显示△(L*,a*,b*),△(E*ab,C*ab,H*ab),△Y,x,y),△(X,Y,Z),△(Rs,Gs,Bs)或△(WI,YI,Tw)。 * 色彩空间显示(L*,a*,b*),(L*,C*ab, hab),(Y,x,y),X,Y,Z),(Rs,Gs,Bs)或(WI,YI,Tw)。 * 统计功能(zuida值、zui小值、平均值及标准偏差)。 * 可设置的颜色差异允许误差判断PASS/WARN/FAIL。 * 可存入9个目标颜色。 * 使用者校正功能确保高准确性。 * 自动记忆(99组)及读取功能。 * 数字背光显示,无视差。 * 自动关机功能。 * 采用USB数据线输出,与PC连接。 * 提供蓝牙 Bluetooth 数据输出选择。
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新准仪器CHY-C2晶圆测厚仪 硅片自动测厚仪
- 品牌:济南新准
- 型号: CHY-C2
- 产地:济南
CHY-C2晶圆测厚仪采用机械接触式测量方式,严格按照GB/T 6618标准要求设计,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于8英寸/12英寸晶圆板、硅片厚度精确测量,同时也满足塑料薄膜、无纺布、铜箔、金属镀层、薄片、隔膜、纸张、箔片等材料的厚度测量。
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新准仪器CHY-B1瓶壁厚测量仪 接触式壁厚底厚测试仪
- 品牌:济南新准
- 型号: CHY-B1
- 产地:济南
CHY-B1适用于食品、药品、化妆品等行业测量安瓿瓶、西林瓶、口服液瓶、输液瓶、啤酒瓶、塑料瓶等瓶底及瓶壁的厚度。壁厚测厚仪广泛应用于质检中心、药检中心、包材生产厂、制药企业、食品企业、化妆品企业等单位。
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新准仪器CHY-01A玻璃瓶壁厚底厚测厚仪 安瓿瓶壁厚底厚测试
- 品牌:济南新准
- 型号: CHY-01A
- 产地:济南
CHY-01A适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、西林瓶等产品壁厚底厚的测试。
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镀铝层数字测厚仪GH-E
- 品牌:广州标际
- 型号: GH-E GBPI
- 产地:广州
广州标际特色客户服务系统:(售后服务) 免费SY新仪器; 免费提供包装检测; 免费提供仪器软件升级服务; 免费来厂培训仪器操作,合格者颁发毕业证,免费提供食宿; 报修承诺:2小时回应,48小时内上门 免费为客户在第三方检测机构检测样品,提供样品数据比对; 仪器以旧换新政策,以及故障时提供备用仪器使用; 通过Oracle客户管理软件,建立完整客户信息,全程跟踪服务; 服务热线:18825066456/ 020-86153717 亲,可以关注公司微信公众号:gbtest了解广州标际ZX产品资讯哦!
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薄膜电子测厚仪GH-D
- 品牌:广州标际
- 型号: GH-D GBPI
- 产地:广州
广州标际特色客户服务系统:(售后服务) 免费SY新仪器; 免费提供包装检测; 免费提供仪器软件升级服务; 免费来厂培训仪器操作,合格者颁发毕业证,免费提供食宿; 报修承诺:2小时回应,48小时内上门 免费为客户在第三方检测机构检测样品,提供样品数据比对; 仪器以旧换新政策,以及故障时提供备用仪器使用; 通过Oracle客户管理软件,建立完整客户信息,全程跟踪服务; 服务热线:18825066456/ 020-86153717 亲,可以关注公司微信公众号:gbtest了解广州标际ZX产品资讯哦!
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GH-E镀铝层测厚仪-广州标际
- 品牌:广州标际
- 型号: GH-E
- 产地:广州
各种镀铝薄膜、镀铝纸以及其他导电材质镀层等的电阻值、均匀度、厚度值的测试。
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GH-D电子测厚仪-广州标际
- 品牌:广州标际
- 型号: GH-D
- 产地:广州
GH-D型电子测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪,操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜,纸张等材料厚度测量或比较测量。
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高精度机械式测厚仪 薄膜薄片测厚仪
- 品牌:济南西奥
- 型号: FTT-01
- 产地:济南
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THI-1801测厚仪
- 品牌:济南思克
- 型号: THI-1801
- 产地:济南
THI-1801测厚仪采用接触式测量原理,德国测厚传感器,工业TFT屏,触摸屏操作,零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷。
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DJH Designs膜厚仪
- 品牌:加拿大DJH Designs
- 型号:
- 产地:加拿大
DJH Designs膜厚仪DJH Designs 系统属性DJH Designs 膜厚度测试系统从使用简单出发结合功能与准确性为干膜厚度的测量建立了一个标准。这个系统是功能化的,它不仅使用简单而且还囊括了一直以来客户期望 DJH Designs 产品所具备的性能、质量以及可靠性等所有的高标准。DJH Designs 膜厚度测试系统在生产线与质量控制试验室两方面同时发展。精密计算机系统的控制保证了其准确性与重复性。系统的心脏部分是精密设计的钻孔仪和高分辨率的摄像监控器。在一块涂层的
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测厚仪CHY-02
- 品牌:济南思博
- 型号: CHY-02
- 产地:济南
Ø 单次试验和连续试验两种模式。 Ø 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,使测试过程更符合标准。 Ø 微电脑控制,PVC操作面板,操作更简单。 Ø 多量程可选,满足更多标准要求。 Ø 采用精密电机驱动,加载平稳,无跳动。
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瑞士Powatec 8寸晶圆紫外固化机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: U-200
- 产地:瑞士
POWATEC 固化系统用于固化最大 8" 的晶圆和框架。LED 产生 365 nm 的波长,最大输出光功率为 750 mW。打开盖子,将晶圆放在左侧传送带上。按下启动按钮。晶圆在 LED 单元上方移动到右侧。固化在大约 20-30 秒后完成,产生 130-180 帧/小时的稳定吞吐量。完全可调的固化时间范围在 15 秒到 3 分钟之间。主要特点:采购成本低=总拥有成本 (COO) 低没有产生有害臭氧零预热时间UV - LED使用寿命长( 10,000小时以上)低强度下降(1
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瑞士Powatec 12寸晶圆贴膜机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: L-300
- 产地:瑞士
POWATEC L-300 手动层压机的独特设计允许一次性将粘性箔或 UV 箔层压到最大 300 毫米的晶圆上。在层压过程中,一个特殊的卡盘通过真空将晶圆固定在适当的位置。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:高达 300 毫米的晶圆尺寸带平面或不带平面的卡盘设计可调胶带张力快速轻松地转换为各种晶圆和箔片紧凑而坚固的桌子设计安装和启动时间短运营成本低UPH,胶带晶圆/小时高达 80 片选项:UV胶带(PTW)保护胶带卷绕机的自动卷绕装置 静
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瑞士Powatec 8寸晶圆贴膜机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: L-200
- 产地:瑞士
POWATEC L-200 手动晶圆贴膜机的独特设计允许一次性将粘性箔或 UV 箔层压到晶圆上。三个气动销使晶圆居中,一个特殊的真空吸盘在层压过程中将晶圆保持在适当的位置。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:最大 8" 晶圆尺寸带平面或不带平面的卡盘设计可调胶带张力快速轻松地转换为各种晶圆和箔片紧凑而坚固的桌子设计安装和启动时间短运营成本低UPH,胶带晶圆/小时高达 80 片选项:胶片框架转换套件 4" - 8"保护胶带卷绕机的自动卷绕装置&nbs
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瑞士Powatec 12寸晶圆贴片机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: P-300
- 产地:瑞士
瑞士POWATEC公司P-300 型晶圆贴片机允许在单程中将薄膜粘合到晶圆/基板和框架上。在安装过程中,晶圆通过真空保持在抗静电玻璃料(碳)上。这种玻璃料在粘附过程中保护晶片表面并吸收任何污垢颗粒。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:将胶带和晶圆一次性安装到框架上,最大 300 毫米可以处理矩形基板、晶圆片以及凸块晶圆可加工厚度达 30 µ 的晶圆快速轻松地转换为不同的晶圆、框架和箔片类型紧凑、坚固的桌面设计安装和启动时间短运营成本低UPH,安装晶
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瑞士Powatec 8寸晶圆贴片机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: P-200
- 产地:瑞士
瑞士POWATEC晶圆贴片机 P-200 型允许在单程中将薄膜粘合到晶圆/基板和框架上。在安装过程中,晶圆通过真空保持在抗静电玻璃料(碳)上。这种玻璃料在粘附过程中保护晶片表面并吸收任何污垢颗粒。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:将胶带和晶圆一次性安装到框架上,最大 8"可以处理矩形基板、晶圆片以及凸块晶圆可加工厚度达 30 µ 的晶圆快速轻松地转换为不同的晶圆、框架和箔片类型紧凑、坚固的桌面设计安装和启动时间短运营成本低符合 IEC 204-1
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新准仪器CHY-CA塑料薄膜测厚仪 铜箔测厚仪
- 品牌:济南新准
- 型号: CHY-CA
- 产地:济南
CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、无纺布、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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高斯计
- 品牌:广州兰泰
- 型号: GS-100D
- 产地:广州
产品特点 * 携带方便,范围广。 * 按键式自动调零。 * 操作方便,液晶显示清晰。 * 有测量值/峰值保持,MT/GS单位转换。 *200MT/2000MT范围转换等。
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DRK203C台式高精度薄膜测厚仪
- 品牌:山东德瑞克
- 型号: DRK203C
- 产地:济南
DRK203C台式高精度薄膜测厚仪(GB/T 6672)适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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美国Frontier Semiconductor Line 连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: Frontier Semiconductor-02
- 产地:美国
连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择
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美国Frontier Semiconductor Line Card
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: Line Card
- 产地:美国
Line Card 3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer metrology 晶圆测量学Film Adhesion漆膜附着力测试Global Film Stress AdhesionLocal and Lattice StressThickness, Topography & Geomet
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美国Frontier Semiconductor 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 413 EC
- 产地:美国
非接触式厚度测量,可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。
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美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 500TC
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 500TC
- 产地:美国
FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性,主要应用于半导体,三-五族,太阳能,LED,数据存储,微机电和面板产业。这些特性有助于检测到诸如薄膜开裂,空隙,突起等可能在生产过程中导致严重的问题。在新工艺和材料投入生产前,FSM500TC作为检验其成熟性的工具,起着重要的作用。
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美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 128
- 品牌:美国Frontier Semiconductor
- 型号: FSM 128
- 产地:美国
FSM率先推出基于商业化应用的激光扫描光学杠杆(Optilever)技术,主要应用于薄膜应力和晶圆弯曲测量。该设备频繁使用在分析解决诸如薄膜裂纹,分层,突起和空隙是如何形成的问题。FSM128系列设备,适合在半导体,三-五族,太阳能,微机电,数据存储和液晶面板行业的下一代器件的研发和生产中使用。
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德国马尔数显卡尺18ESA轻便型500
- 品牌:德国凯发
- 型号: 500
- 产地:德国
原装,全新进口,德国马尔Mahr数显卡尺18ESA轻便,高精度. 价优:市场的半价。
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德国KAFER数显测厚仪FD50
- 品牌:德国凯发
- 型号: FD50
- 产地:德国
分度值:0.001毫米 量程:10毫米 颈深:50毫米 液晶显示器,字母高度8.5毫米 测量系统:线性电感 锂电池3V,电池寿命3000小时 数字输出:RS232,光耦合/USB 工作温度:5-4050°C ZD误差5UM.
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RR/PTG测厚仪
- 品牌:英国Ray-Ran
- 型号: RR/PTG
- 产地:英国
由Ray-ran公司专门设计的精密测厚仪可快速、准确地测量各种材料的厚度,包括胶卷、纸、板、铝箔、组织和纺织品等。通过 - -个直观的触摸屏界面操作,用户可以自定义批量大小,测量速度快、简单GX。.
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北京哈科 测厚仪HK-21
- 品牌:北京哈科
- 型号: HK-21
- 产地:朝阳区
适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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德国Fischer菲希尔 磁性测厚仪 DUALSCOPE FMP20
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: DUALSCOPE F
- 产地:德国
德国菲希尔DUALSCOPE FMP20涂镀层测厚仪由于采用了磁感应和电涡流两种方法,FMP20涂镀层测厚仪且具有自动识别基材的功能,这台通用型仪器可以测量铁/钢上、非磁性金属基材上和非导电基材上众多涂镀层的厚度。DUALSCOPE FMP20涂镀层测厚仪使用带曲率补偿功能的探头(FISCHER)。
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美国博曼 金属镀层测厚仪XRF
- 品牌:美国Bowman
- 型号: B系列 BA-100
- 产地:美国
关于美国博曼: 美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可极ng准GX地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。
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扫描型光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Scanner
- 产地:希腊
FR-Scanner 扫描型光学膜厚仪主要由以下系统组成:A) 光学光源装置小型低功率混合式光源本系统混合了白炽灯和LED灯,形成光谱范围360nm- 1100nm;该光源系统通过微处理控制,光源平均寿命逾10000小时;集成小型光谱仪,光谱范围360-1020nm,分辨精度 3648像素CCD 和 16位 A/D 分辨精度.集成式反射探针,6组透射光探针(200um),1组反射光探针,探针嵌入光源头,可修整位置,确保探针无弯曲操
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便携式光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Portable
- 产地:希腊
FR-portable 便携式膜厚仪主要由以下系统组成:Α白炽-LED混合集成式光源系统,通过内嵌式微处理器控制,使用寿命超过20000小时。小型光谱仪,光谱范围370nm –1050nm,分辨精度可达3648像素, 16位级 A/D 分辨精度;配有USB通讯接口;Β) FR-Monitor膜厚测试软件系统,可精确计算如下参数:1)单一或堆积膜层的厚度; 2)静态或动态模式下,单一膜层的折射率;本软件包含了类型丰富的材料折射率数据库,可以有效地协助用户进行线下或者在线测试分析。本系统可支持吸
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ThetaMetrisis薄膜测厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Basic UV/VIS
- 产地:希腊
品牌:西塔名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高
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供应RoHS检测仪器/无卤检测仪
- 品牌:深圳禾苗
- 型号: E8-SDD
- 产地:深圳
HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器,其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。
- 薄膜测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供薄膜测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选薄膜测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。