半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
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