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- 型号: BXS10-SGC-I
- 产地:中国大陆
- 供应商:北京北信科仪分析仪器有限公司
产品 椭圆偏振厚度分析仪 椭圆偏振厚度仪 型号:BXS10-SGC-I※ 测量范围 1nm-300nm※ 测量Z小值 ≤1nm※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°※ 度盘刻度 每格2度※ 游标Z小读数 0.05°※ 光学ZX高度 152※ 工作台直径 ?70※ 外形尺寸 730*230*290※ 主机重量 20kg
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自动产品/产品/测厚仪 型号:DP-TPY-2产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。 规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在1...
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1.自动产品/产品/测厚仪 型号:TP-TPY-2 产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度...
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产品名称:自动产品 自动椭圆偏振测厚装置产品型号: HG99-SET1产品编号: 36900 自动产品 自动椭圆偏振测厚装置 的详细介绍本仪器为我公司的产品,主要分为光源、接收器、主机、电子及通讯四部分。 1、 光源:采用波长为632.8nm的氦氖激光光源①其特点是:光强大、光谱纯、波长稳定性好。 2、 接收器:采用光电倍增管⑤,把光讯号变为电讯号,经放大后输出至微机,由微机选择出消光位置的角度值。 3、 主机部分:除以上两项外,还有起偏组件②,样品台③,检偏组件④。 4、 电子及通讯部分⑥:采集光强及对应的角度值并传输到计算机,再接收由计算机发出的指令逐步靠近消光点。
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产品 偏振测厚仪 测厚仪 型号:TP-TPY-1在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点;光源采用氦氖激光器,功率稳定、波长精度高;仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件,方便用户使用。规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围:1nm-300nm; 折射率范围:1-10测量Z小示值:≤1nm ...
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