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- 型号: BXS10-SGC-I
- 产地:中国大陆
- 供应商:北京北信科仪分析仪器有限公司
产品 椭圆偏振厚度分析仪 椭圆偏振厚度仪 型号:BXS10-SGC-I※ 测量范围 1nm-300nm※ 测量Z小值 ≤1nm※ 入射角 30°- 90° 误差≤0.1°※ 偏振器方位角读数范围 0°- 180°※ 度盘刻度 每格2度※ 游标Z小读数 0.05°※ 光学ZX高度 152※ 工作台直径 ?70※ 外形尺寸 730*230*290※ 主机重量 20kg
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自动产品/产品/测厚仪 型号:TP-TPY-2 产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在1...
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自动产品/产品/测厚仪 型号:TP-TPY-2 产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在...
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产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在10-100nm时)光学ZX高度:80mm 成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件(需配计算机)主机重量:26kg 外形尺寸:680*390*310mm装箱单序号名 称 规格或型号数量
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TP-TPY-2 自动椭圆偏振测厚仪/椭圆偏振测厚仪/测厚仪 厂家
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自动产品/产品/测厚仪 厂家 型号:TP-TPY-2产品特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。 规格与主要技术指标:测量范围:薄膜厚度范围1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量Z小示值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05°度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm偏振器步进角:0.014°/步 偏振器方位角范围:0°- 180° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度...