产品介绍： 产品介质损耗测试仪工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差AC频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz固有误差≤6％±满度值的2%≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2%≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围AC14.5nH～8.14H4.5nH～140mH3．电容测量AC直接测量范围1～460p1～205p主电容调节范围40～500pF18～220pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%150pF以下±1.5pF150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法...
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塑料介电常数测试仪 共30个产品
产品简介：介电常数测量装置/介电常数及介质损耗测试仪/介电常数测试仪 型号:DP-ZJDA仪器介绍 DP-ZJDA介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。技术参数1 Q值测量范围：5～999 Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡 误差：25kHz～10MHz ≤5%±满度值的2% 10MHz～50MHz ≤7%±满度值的2%2 电感测量范围：0.1μH～1H 分七个量程3 电容测量范围：1PF～460PF 主电容调节范围：40PF～500 PF 准确度：150PF以下±1.5PF 150P
产品简介： 介电常数测量装置/介电常数及介质损耗测试仪/介电常数测试仪 型号:DP-ZJDA DP-ZJDA介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍 DP-ZJDA介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。 DP-ZJDA介电常数及介质损耗测试仪技术参数1 Q值测量范围：5～999 Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡 误差：25kHz～10MHz ≤5%±满度值的2% 10MHz～50MHz ≤7%±满度值的2%2 电感测量范围：0.1μH～1H 分七个量程3 电容测量范围：1PF～460PF 主电容调节范围：
产品简介：介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号：DPSTD-ADPSTD-A介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。介电常数测试仪主要技术指标1．频率范围及刻度误差范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2% 1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz 1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz 1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz 1.7：25~50MHz；2．Q值测量范围及误差范围：5~500误差：1）当频率从5~25K
产品简介：介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号：DPSTD-ADPSTD-A介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。介电常数测试仪主要技术指标1．频率范围及刻度误差范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2% 1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz 1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz 1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz 1.7：25~50MHz；2．Q值测量范围及误差范围：5~500误差：1）当频率从5
产品简介：介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号：MHY-03474 MHY-03474 介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。介电常数测试仪主要技术指标1．频率范围及刻度误差范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2% 1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz 1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz 1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz 1.7：25~50MHz；2．Q值测量范围及误差范围：5~500误差：1）当频率
产品简介： 介电常数测试仪/介电常数检测仪/介电常数测定仪 型号：DPSTD-ADPSTD-A介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。介电常数测试仪主要技术指标1．频率范围及刻度误差范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2% 1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz 1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz 1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz 1.7：25~50MHz；2．Q值测量范围及误差范围：5~500误差：1）当频率
产品简介： 产品介电常数及介电损耗测试仪HCJDCS-A型 HCJDCS-B型 HCJDCS-C型 HCJDCS-G型 四种型号 HCJDCS-A型 介电常数及介质损耗测试验仪介电常数及介质损耗测试仪介绍 HCJDCS-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。 相关介绍介电常数又称电容率或相对电容率，是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场（真空中）与介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力，例如一个电容板中充入介电常数为ε
产品简介：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、介电常数介质损耗试验仪概述GDAT高频 Q 表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项领先技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至Z低，
产品简介：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、介电常数介质损耗试验仪概述GDAT高频 Q 表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项领先技术：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至Z低，
产品简介：一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率
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