X-MaxN 80T用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD。X-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计，具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此。X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供的立体角和分析性能。旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度。出色的分辨率，在50,000cps下保证Mn的分辨率。优化的检出角，可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力。其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证，包括场发射、球差校正电镜。利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素分布图，包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理。X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它