硅漂移探测器 - 产品信息 - 相关知识

2025-02-07 17:47:13硅漂移探测器: 硅漂移探测器是一种高性能的半导体探测器，基于硅材料的电荷收集原理，能够实现对X射线或粒子的高效探测。它广泛应用于X射线光谱仪、粒子探测器及成像系统等领域，具有高分辨率、低噪声及快速响应等技术优势。硅漂移探测器能够精确测量入射粒子的能量和位置信息，为科学研究、医疗诊断及工业检测提供了可靠的分析手段。

硅漂移探测器相关内容

全部
资讯
产品
问答

硅漂移探测器资讯

采用EDXRF快速可靠的测试铁矿石压片样品

能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)是这类采矿应用的完美分析技术。S2 PUMA是一款简单易用的台式设备，配备HighSense® 硅漂移探测器 (SDD) 和Pd靶X射线管。

大昌华嘉科学仪器部 385
2022-11-27
能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF) HighSense® 硅漂移探测器 (SDD)
【能谱篇】什么是能谱？影响能谱定量的重要因素（下）

氟化锶的点分析测量结果表明两种元素的实际峰强与化学计量比并不相同，但依然可以获得非常准确的定量分析结果。

复纳科学仪器（上海）有限公司 1094
2022-06-04
元素面扫 Mapping 飞纳电镜硅漂移探测器

硅漂移探测器产品

产品名称

所在地

价格

供应商

咨询

: SDD硅漂移探测器; 国外欧洲; 面议; 北京先锋泰坦科技有限公司
售全国; 我要询价联系方式

: Horiba X-Max 硅漂移探测器; 国外欧洲; 面议; 柯岷国际贸易(上海)有限公司
售全国; 我要询价联系方式

: AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD; 国外美洲; 面议; 阿美特克电子仪器集团
售全国; 我要询价联系方式

: Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用; 国外美洲; 面议; 阿美特克电子仪器集团
售全国; 我要询价联系方式

: AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器; 国外美洲; 面议; 阿美特克电子仪器集团
售全国; 我要询价联系方式

硅漂移探测器问答

2024-01-03 11:29:37cmos探测器: cmos探测器规格：50x73mm分辨率：18um

2024-10-18 21:46:35平板探测器分辨率: 平板探测器分辨率，现有平板探测器分辨率：49um/66um/90um/100um/125um/139um/150um/根据不同需求选择！安竹光电！

2023-03-14 11:20:50红外硅滤光片: 由于单晶硅片具有良好的红外光谱特性以及物理性能，我司生产的红外传感器滤光片主要采用单晶硅为基片，通过在基片上交替镀制不同折射率和厚度的材料薄膜，使基材具有长通、短通，带通，增透，反射等功能。我司生产的单晶硅红外滤光片主要应用在激光、成像、探测、测温、传感、航空航天等领域的传感器上面，所以也叫红外传感器专用滤光片。我司提供镀膜和不镀膜的单晶硅滤光片。主要应用：1、红外报警器，光电开关。（热释电红外传感器）2、夜视仪窗口3、测温仪窗口4、热成像仪5、气体分析仪产品参数：注:0°～45°入射时中心波长位移：≤110nm用途单晶硅片窄带滤光片4260nm红外窄带滤光片CWL：4260nm@T>70~80%，FWHM:90~380nm带外：UV~11μm@T>1% CO2检测、火焰报警器、二氧化碳报警器单晶硅片窄带滤光片3900nm红外窄带滤光片CWL：3900@T>70~80%，FWHM:90~170nm带外：UV~11μm@T70%，FWHM:120nm带外：UV~11μm@T70%，FWHM:125nm带外：UV~11μm@T70%，FWHM:125nm带外：UV~11μm@T75%，FWHM:230nm带外：UV~11μm@T75%，FWHM:225nm带外：UV~11μm@T75%，FWHM:205nm带外：UV~11μm@T75%，FWHM:225nm带外：UV~11μm@T70%，带外：UV~20μm@T80%，不同厚度基材透过略有变化。单晶硅片增透膜8-14 um红外增透膜8~14μm平均透过率T>80%，不同厚度基材透过略有变化。

2025-04-30 13:15:19碳硅炉前分析仪测量原理是什么？: 碳硅炉前分析仪测量原理碳硅炉前分析仪作为一种重要的冶金仪器设备，广泛应用于炼钢、铸造等工业领域。其主要功能是实时监测和分析炉前物料中碳、硅含量，确保冶炼过程的控制，提升产品质量和生产效率。本文将详细介绍碳硅炉前分析仪的测量原理，解析其工作机制、主要技术特点以及在实际应用中的优势，为相关行业的工程技术人员提供理论支持。碳硅炉前分析仪的基本工作原理碳硅炉前分析仪的核心功能是通过高精度的分析技术，实时监测炉前的碳、硅含量，保证冶炼工艺的顺利进行。其工作原理基于光谱分析技术和化学分析原理。具体来说，分析仪通过将炉前物料的气体、液体或固体样本引入分析室，并通过激光或电磁波激发样本中的元素。在此过程中，不同元素会对激发波长做出不同的响应，从而通过光谱图或电化学信号，获取物料中的碳和硅含量。光谱分析技术光谱分析是碳硅炉前分析仪常用的测量手段之一。该技术通过激发炉前样品中的元素，使其发生特定波长的辐射，进而通过光谱仪对这些辐射进行捕捉与分析。根据不同元素的发射光谱特征，可以准确判断出炉料中碳、硅的浓度。该技术具有反应速度快、精度高等优势，因此成为冶炼过程中实时监控和调控的重要工具。电化学分析原理另一种常用的测量原理是电化学分析法。在此过程中，碳硅炉前分析仪通过电极与样品之间的电流或电压变化，测定炉料中碳、硅的含量。这种方法具有高度的灵敏度和稳定性，能够在不同的炉前环境中提供持续可靠的分析数据。碳硅炉前分析仪的技术优势实时性强：碳硅炉前分析仪能够实现实时数据采集与处理，大大缩短了分析时间，为生产过程提供即时反馈，优化操作决策。精度高：通过精密的光谱和电化学分析，仪器能够达到极高的测量精度，确保冶炼过程中的碳硅成分控制在最佳范围内。操作简便：现代碳硅炉前分析仪通常配备用户友好的界面，简化了操作步骤，减少了人为误差。适应性强：设备可在极端的炉前高温和复杂环境下稳定运行，适用于多种冶炼作业需求。应用领域碳硅炉前分析仪在钢铁冶炼、铸造行业等领域的应用日益广泛。在钢铁生产过程中，通过精确监控碳硅含量，可以优化冶炼工艺，确保产品质量符合标准。铸造行业则借助该仪器实现材料成分的控制，从而提高铸件的强度和耐用性。结语随着冶金行业对精确控制和高效生产的要求不断提高，碳硅炉前分析仪的应用将越来越广泛。其通过先进的光谱分析和电化学原理，为冶炼过程提供数据支持，极大提升了生产效率和产品质量。对冶金行业来说，掌握并应用这一技术，将为企业带来可持续的发展动力。

2022-09-19 15:47:06金相显微镜用于观察晶体硅材料: 晶体硅材料是最主要的光伏材料，性质为带有金属光泽的灰黑色固体、硬度大、有脆性、常温下化学性质不活泼。它包括单晶硅和多晶硅.硅的单晶体,具有基本完整的点阵结构的晶体。不同的方向具有不同的性质，是一种良好的半导材料。常用于制造半导体器件、太阳能电池等。一般需要什么显微镜观察？金相显微镜MJ31金相显微镜MJ31具有长工作距离平场物镜、超大视野目镜，视场数可达到22mm，观察更加平展舒适主要应用于半导体、FPD、电路板、金属材料、精密刀具等制造领域，适用于教学及研究方面。如果您对金相显微镜MJ31感兴趣或有疑问，欢迎与我们联系，期待与您相约！来源：http://www.mshot.com.cn/kehuanli/20220823.html，转载请保留出处，谢谢！